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通过土壤铝释放试验、马尾松幼苗铝处理试验和马尾松林地土壤抗铝处理试验,以及对南山土壤活性铝含量的测定,从正反两方面剖析了南山马尾松衰亡与铝中毒的关系。试验结果表明:南山土壤中活性铝的含量很高,大量的活性铝是在土壤酸化条件下矿物铝活化造成的,铝(特别是Al3+)对马尾松有较强的毒害作用,铝中毒是南山马尾松衰亡的主要原因。在此基础上,选用石灰、有机肥和磷酸盐等处理南山土壤,抗铝效果显著 相似文献
82.
供助光学显微镜,扫描电镜等手段,对用埋铸法生产的T9815气轮机组隔板断裂部位的金相组织特征,宏观和微观断口形貌等进行了研究,结果表明:由于高温铁水对叶片铸入部位的冲刷,增强作用,使不锈钢铸铁化进而使叶片铸入部位强度降低,在拉应力的作用下导致叶片铸入部位开裂。 相似文献
83.
84.
采用反应磁控溅射技术在单晶硅基片上制备了CrN纳米单层膜和CrAlN/TiAlN纳米周期膜,利用非极化中子和X射线反射对膜层厚度、膜层界面粗糙度、界面扩散等表面、界面结构和性质进行了系统研究。中子反射测得的CrN纳米单层膜和CrAlN/TiAlN纳米周期膜的厚度与设计厚度的差别为3.8%~4.2%。散射长度密度(SLD)分析结果表明,膜层间和膜层与基底间界面较为清晰,扩散较少。X射线反射测得的膜层厚度较中子反射测得的膜层厚度偏高,对于较小调制周期的多层膜,界面弥散会对X射线反射结果产生较大误差。 相似文献
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88.
89.
为研究X射线反射技术在纳米多层膜界面微结构表征中的应用,采用反应磁控溅射技术在单晶硅基片上制备CrAlN/TiAlN纳米周期膜,利用X射线反射技术系统研究溅射工艺参数对CrAlN/TiAlN纳米周期膜界面微结构的影响规律。结果表明:增加铝靶功率可提高膜层的溅射速率和降低膜层的界面粗糙度,然而较高的铝靶功率会使膜层界面出现严重的弥散;较大和较小的负偏压都不利于形成完整的周期膜调制结构和光滑的界面;提高Ti/Cr靶电流可有效改善周期膜的调制界面结构,但太大的靶电流会导致膜层间扩散加重,形成弥散界面。N2流量与Ar流量对膜层界面粗糙度具有相反的影响作用。试验得到的优化工艺参数为:铝靶功率80W,溅射负偏压-200 V,Ti/Cr靶电流0.2A,N2流量30cm~3/min,Ar流量10cm~3/min。 相似文献
90.
杜晓明 《中国新技术新产品》2009,(24):197-197
本文基于对淮安经济开发区台资企业的调研,对如何将淮安打造成新台商密集区进行了论证。 相似文献