Ce掺杂对Mn-Co-O系热敏电阻材料性能的影响

采用共沉淀法制备了Mn_(1.5–x)Co_(1.5)O_4(x=0,0.04,0.08,0.12,0.16,0.20)系列NTC热敏电阻样品,运用XRD、SEM和电学测试等手段,系统的研究了铈掺杂对样品相结构和电性能的影响。结果表明:随着Ce含量的增加,样品的主相仍是尖晶石结构,伴随着析出富Ce的岩盐相。随着Ce的掺杂量由0增加到0.20,Mn-Co-O系NTC热敏电阻的电阻率由627?·cm增加到948?·cm,材料常数由4 382 K降到4 140 K。     

岩电参数影响因素研究

复杂的地层条件使得岩电参数值与理论值有显著差异.通过大量岩电实验数据,研究了渗透率、孔隙度、润湿性、地层水矿化度及孔隙结构对岩电参数的影响,认为阿尔奇公式中的a值反映了岩石中泥质成份的附加导电性,泥质含量越高,a值越小;m值是对岩石中孔隙迂曲度的度量,迂曲度越高,m值越大;b值可反映岩石的润湿性,n值反映了岩石的润湿性和孔隙结构特征,其值随地层水矿化度的增加明显增大.这些认识对准确理解与应用岩电参数提供了一定的依据.     

鄂尔多斯盆地低电阻率油层的分类分析及评价

介绍了鄂尔多斯盆地低电阻率油层的类型,分析了低电阻率油层形成机理,认为低电阻率油层是多种因素共同作用的结果,特定的区块和特定类型的低电阻率油层有可能是1~2个主导因素起主要作用。在分析沉积相和掌握油藏规律的基础上,提出了邻水法、可动水分析法、岩性系数法、核磁共振法、综合地质分析法等低电阻率油层识别方法。给出了相应的解释成果实例。     

过套管电阻率测井数据处理及其在油气层评价中的应用

根据过套管电阻率(CHFR)测井的测量原理,讨论了视电阻率的影响因素,提出了CHFR曲线的影响因素校正与刻度方法,分析了CHFR测井数据在吐哈丘陵油田油藏动态监测中的实际应用效果.CHFR测井的视电阻率与仪器的刻度系数受到套管接箍、射孔及井壁接触等因素影响.针对套管接箍、套管腐蚀或射孔等的影响,提出了平滑滤波的校正方法.对于CHFR测井的刻度,采用了稳定泥岩层及纯含水段的套管电阻率值与深感应或深侧向曲线的最佳拟合,减小由非仪器因素造成刻度系数变化的影响.通过对吐哈丘陵油田4口井过套管电阻率测井资料的处理与解释,初步显示了CHFR测井在寻找未动用油层或漏失油层、已开发储层的水淹程度及储层中剩余油饱和度评价方面的良好应用前景.     

高阻真空区熔硅单晶的生长

介绍了高阻真空区熔硅单晶的研制工艺,研制出了导电类型为p型,电阻率(3～5)×103 Ω·cm及(1～2)×104Ω·cm两种规格的真空区熔硅单晶,其中电阻率(3～5)×103Ω·cm规格单晶的研制除需要进行真空区熔提纯外,还要进行微量的p型区熔掺杂.单晶直径30～35 mm,晶向〈111〉.经检测无位错及漩涡缺陷,单晶的少数载流子寿命达到1500μs以上.     

膜厚对多晶硅纳米薄膜压阻温度特性的影响

重掺杂多晶硅纳米薄膜具有良好的压阻温度特性,用它制作高温压阻式传感器灵敏度高、成本低,具有广阔的应用前景.为优化多晶硅纳米薄膜的压阻温度特性,本文采用低压化学气相淀积(LPCVD)技术制作了不同膜厚(30～250 nm)的多晶硅薄膜,分别测试了应变系数、薄膜电阻率与工作温度的关系.利用扫描电镜(SEM)和X射线衍射实验(XRD)对薄膜进行了表征,在此基础上结合隧道压阻模型分析了膜厚对多晶硅薄膜压阻温度特性的影响,结果表明,对于淀积温度620℃、掺杂浓度2.3×1020 cm-3的多晶硅纳米薄膜,膜厚的最佳值在80 nm厚左右.     

高分辨地电阻率法探测煤矿地质异常体

介绍了高分辨地电阻率法运用于地下全空间探测的理论基础。通过实例探测表明,该技术可以运用于煤矿地质异常探测,丰富了矿井直流电法勘探的方法。     

火工药剂静电积累量的测试

为测试常见火工药剂的静电积累量,探讨测试过程中各种因素对静电积累量的影响。选取420~840 μm的石英砂为标准试样,在不同环境温湿度、滑槽材质、滑槽长度及倾斜角度、试样粒度和用量等条件下,对其静电积累量进行了测试。结果表明: 试样量越多,积累的电荷量越大; 静电积累量与环境温度和湿度有着良好的线性关系,温度越高静电积累量越大,湿度越大静电积累量越少; 静电积累量随粒度的增大而减小,可拟合成指数变化关系; 滑槽的材质,长度和倾斜角度对于静电积累量有着明显的影响。在此基础上,对斯蒂芬酸铅、叠氮化铅、苦味酸钾以及高氯酸碳酰肼系列火工药剂的电阻率与静电积累量进行了测试。表明,这几种火工药剂均属于高电阻率的物体; 在所测药剂中,斯蒂芬酸铅的静电积累量最高; 添加了晶型控制剂糊精与聚乙烯醇的叠氮化铅静电积累值明显小于纯叠氮化铅,糊精与聚乙烯醇可以作为良好的抗静电剂使用。 