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1.
采用SPM (Sulfuric-Peroxide Mixtures, 98wt%H2SO4+30wt%H2O2)+兆声(方法1)和氧等离子体+HPM (Hydrochloric/Peroxide Mixture, 37wt%HCl+30wt%H2O2+DIH2O)+兆声(方法2)两种清洗方法对多层介质膜脉宽压缩光栅进行清洗, 并对清洗前后样品的表面元素含量、衍射效率、表面粗糙度、表面温升以及激光损伤阈值等参数进行测量以评估两种清洗方法清洗效果。在入射角70°, 脉宽12 ns, s偏振, 波长1064 nm的激光辐照下, 经过清洗方法1清洗后的光栅样品单脉冲激光损伤阈值为7.55 J/cm 2, 而方法2清洗后的样品损伤阈值为5.32 J/cm 2。另外, 虽然经过方法2清洗后样品表面杂质含量更低, 但是在衍射效率、表面粗糙度和表面温升都劣于经方法1清洗后的样品, 进一步分析发现方法2中氧等离子体清洗过程引入的Fe元素影响了其样品损伤性能和温升性能。因此, SPM清洗方法可以作为多层介质膜脉宽压缩光栅提升抗激光损伤性能的优化清洗方案。 相似文献
2.
3.
The progress in atom transfer radical polymerization (ATRP) provides an effective means for the design and preparation of functional membranes. Polymeric membranes with different macromolecular architectures applied in fuel cells, including block and graft copolymers are conveniently prepared via ATRP. Moreover, ATRP has also been widely used to introduce functionality onto the membrane surface to enhance its use in specific applications, such as antifouling, stimuli-responsive, adsorption function and pervaporation. In this review, the recent design and synthesis of advanced functional membranes via the ATRP technique are discussed in detail and their especial advantages are highlighted by selected examples extract the principles for preparation or modification of membranes using the ATRP methodology. 相似文献
4.
《Microelectronics Reliability》2014,54(9-10):2128-2132
Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM) is successfully applied to investigate failing nLDMOS test devices that exhibit a lowered break down voltage (BVDSS) in electrical test. Cross-sectional, two-dimensional maps of the local sample resistivity from fail and reference (pass) devices reveal significant differences of the dopant concentration in individual, specific regions. This important information enables unambiguous identification of the root cause of the device failure to be dopant related. Furthermore, from a set of hypothesis, which explains the failed electrical test, SSRM results confirm exactly one and rule out the other. These are two important steps towards root cause identification. Since a relative comparison of fail and pass SSRM scans is sufficient for this failure analysis, an extensive data calibration for the absolute dopant concentration by means of additional SSRM measurements on test samples with known dopant concentration is not required. The ability of SSRM to prove or disprove miscellaneous fail hypothesis even without data calibration makes this method a very powerful tool for analysis of dopant related failure types. 相似文献
5.
6.
利用XRD、SEM、TEM和EDS等方法表征了Mg-Al-Zn-xCa(x=0、1.25%、1.74%、2.53%)合金腐蚀前后的组织结构,并采用失重法、电化学法、扫描探针显微镜(SPM)研究了合金腐蚀行为。结果表明:合金主要由α-Mg、β-Mg17Al12、Al2Ca和(Mg,Al)2Ca 组成。随着Ca含量的增加,合金组织中枝晶臂减小,主要沿晶界分布的Mg17Al12尺寸、数量逐渐减小, Al2Ca由骨骼状连接成网状,(Mg,Al)2Ca增多长大。腐蚀测试结果显示:添加Ca后的合金中α+β共晶减少,导致腐蚀通道变窄且比例减小。Ca元素能够使阳极自腐蚀电位升高,形成的Al2Ca阴极相抑制了析氢过程。合金中主要析出相Al2Ca 与α-Mg的电势差小于β-Mg17Al12与α-Mg的电势差。 相似文献
7.
8.
全光加密技术是解决目前光纤通信网的加解密速率瓶颈及物理层潜在的安全威胁的有力保证。针对现有全光异或加解密方案工作速率普遍较低的问题,在传统的SOA-MZI型全光异或门的基础上,利用两段色散互补的G.655单模光纤,并结合一个相位偏移器设计了一种改进型SOA-MZI全光异或方案,以该改进方案作为全光安全处理器在OptiSystem7.0仿真平台上搭建新的全光异或加解密方案,对输入信号比特速率分别为10Gb/s和40Gb/s的加解密方案进行了仿真实验验证。结果表明:基于改进型SOA-MIZ全光异或门的加解密方案可将全光异或加解密速率提高到40Gb/s,并且解密恢复出的明文数据的消光比约可以达到20dB,最大Q值约为25.7,加解密过程不会对通信系统引入额外误码。 相似文献
9.
为了消除环境因素(尤其是振动和温度波动)在物体表面三维形貌测量中的影响,基于正弦相位调制(SPM)发展了一种光纤干涉条纹相位稳定技术。利用马赫-泽德光纤干涉仪结构和杨氏双孔干涉原理实现高密度的余弦分布干涉条纹投射。利用两光纤干涉臂端面的菲涅尔反射生成迈克尔逊干涉信号,由光电探测器(PD)检测后送入相位控制系统。采用相位生成载波的方法提取干涉信号的相位,并将生成的补偿信号闭环反馈给压电陶瓷驱动器,与正弦相位调制信号相加后共同驱动压电陶瓷,补偿环境因素带来的相位漂移,实现干涉条纹相位的稳定。环境因素对条纹相位的影响低于57 mrad,实验结果验证了该方法可行性。 相似文献
10.
扫描探针显微镜测壳聚糖材料的表面电荷分布 总被引:2,自引:0,他引:2
提出一种测量材料表面电荷是非均匀的、没有中性区的弱电荷的方法.即测试时,利用扫描探针显微镜(SPM)的静电力显微镜(EFM)测量技术,依靠轻敲模式(Tapping Mode)和抬举模式(Lift Mode),用相位成像测量有机高分子膜--壳聚糖膜(CHI)的表面电荷密度空间分布,但由于仪器设计中相位的泰勒展开是:sin△φ≈1/2△φ,所以所获的电荷图像只能确定材料的表面电荷分布和表面电荷密度的近似值.然而,嵴宽约为2.12μm表面正电荷微沟槽结构的这种特殊电荷形貌分布有利于细胞的生长,因此获得的表面电荷分布补充了生物材料表面理化性质. 相似文献