Effect of the ammoniating time on microstructure and morphology of one-dimensional Mg-doped GaN nanowires catalysed with Au

Mg-doped GaN nanowires have been successfully synthesised on Si(1?1?1) substrates by magnetron sputtering through ammoniating Ga₂O₃/Au thin films, and the effect of ammoniating time on microstructure and morphology were analysed in detail. X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, scanning electron microscopy, high-resolution transmission electron microscopy and photoluminescence spectrum were carried out to characterise the microstructure, morphology and optical properties of the GaN samples. The results demonstrate that the nanowires after ammonification at 900°C for 15?min are single crystal GaN with a hexagonal wurtzite structure and high crystalline quality, having the size of 50–80?nm in diameter, more than 10 microns in length and good emission properties. The growth direction of this nanowire is parallel to [0?0?1] direction of hexagonal unit cell. Ammoniating time has a great impact on the microstructure, morphology and optical properties of the GaN nanowires.     

氨化硅基Ga2O3／Al2O3制备GaN薄膜性质研究

研究了Ga2O3／Al2O3膜反应自组装制备GaN薄膜。首先利用磁控溅射法在硅衬底上制备Ga2O3／Al2O3膜，再将Ga2O3／Al2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到GaN薄膜。用傅里叶红外谱仪(FTIR)，X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)对试样进行结构、组分和形貌分析。通过分析薄膜各方面的性质，得出了用此方法制备氮化镓薄膜的Al2O3缓冲层最佳的厚度为15nm左右，最佳氨化条件是在900℃下氨化15min。     

高温氨化合成GaN微晶

分别利用Ga2O3粉末和Ga2O3凝胶作为Ga源,采用NH3为N源,在950℃下,分别将两种反应物与流动的NH3反应20 min合成了GaN微晶。用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、选择区电子衍射(SAED)对微晶进行结构、形貌的分析,特别是对两种不同途径合成GaN微晶的XRD进行了分析比较。结果表明,当Ga源温度为950℃时两种不同的合成途径均可得到六方纤锌矿结构的GaN单晶颗粒,在氮化温度为850℃和900℃时,利用Ga2O3粉末作为Ga源,仅有少量的Ga2O3转变为GaN;而采用Ga2O3凝胶作为Ga源,在相同的温度下,大部分凝胶经过高温氨化反应均可转化为GaN。     

氨化Si基Ga2O3/In2O3制备GaN薄膜

研究了Ga2O3/In2O3 膜反应自组装制备GaN薄膜,再将Ga2O3/In2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到GaN薄膜,用X射线衍射 (XRD),傅里叶红外吸收(FTIR),扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)对样品进行结构、形貌的分析.测试结果表明,用此方法得到了六方纤锌矿结构的GaN多晶膜,且900℃时成膜的质量最好.     

氨化温度对氨化Si基Ga2O3/Cr膜制备GaN纳米结构的影响

采用磁控溅射的方法在Si(111)衬底上溅射沉积Ga2O3/Cr膜,并通过氨化的方法在Si(111)衬底上成功合成了六方纤锌矿GaN纳米结构材料,研究了不同的氨化温度对合成GaN纳米材料的影响.采用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)、傅里叶红外吸收(FTIR)光谱来检测样品的形态,结构和成分,并且讨论了GaN纳米结构的生长机理.研究结果表明,在Cr催化合成GaN纳米结构的过程中,氨化温度对其有重要影响,最佳温度是950℃.     

微波水热及氨化法制备GaN纳米棒

以Ga2O3为原料,用微波水热法和高温氨化两步法合成GaN纳米棒。采用XRD及SEM对其结晶形貌进行表征。研究得出,GaN纳米粉呈长径比约为5:1的棒状,该纳米棒是由沿(002)方向高度取向一致的GaN晶粒结晶而成。XRD分析显示,GaN纳米棒为六方纤锌矿结构且结晶良好。光致发光(PL)分析显示,合成纳米棒在367nm处存在GaN本征发光峰。中心位于468nm、493nm及534nm附近出现了宽而弱的发射带,这有助于GaN在光电领域的应用。     

氨化Si基Ga2O3／Al2O3制备GaN薄膜

研究了Ga2O3／Al2O3膜反应自组装制备GaN薄膜。首先利用磁控溅射法在硅衬底上制备Ga2O3／Al2O3膜，再将Ga2O3／Al2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到了GaN薄膜。用X射线衍射(XRD)，X光光电子能谱(XPS)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)和荧光光谱(PL)对样品进行结构、组分、形貌和发光特性的分析。测试结果表明：用此方法得到了六方纤锌矿结构的GaN晶体膜。     

氟硅酸钠制备白炭黑氨解过程影响因素研究

利用磷肥副产品Na2SiF6为原料,采用氨解法制备白炭黑。Na2SiF6水解反应的机理研究表明pH对水解反应影响很大,是调控白炭黑结构与性能的重要因素;Na2SiF6氨解反应为放热反应,反应初期是调控白炭黑产品结构与性能的关键时期。实验还研究了氨水的加入量、溶液pH、反应温度、氟化钠的加入等因素的影响,该工艺Na2SiF6转化率较高,白炭黑收率可达97%。     

盐矿卤水的净化处理研究

研究了用醇氨化法使盐矿卤水除硝的新方法。经试验确定了合理的工艺流程，精制后卤水可达到氯碱生产指标。     

氟硅酸钠氨化行为研究

研究了氟硅酸钠晶体在溶液中产生氨化的相关条件,研究表明:搅拌强度、搅拌时间、溶液的酸度是影响氨化的主要因素。