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1.
针对电路测试序列质量低而导致测试费用高的问题,提出了修改扫描选择子序列提高测试序列质量的方法.通过组合测试集转化生成测试序列,研究分析组合测试集与转化测试序列的质量.通过修改测试序列的扫描选择子序列,使其能在相同的测试时间内检测更多故障,减少测试所需时间,降低测试费用.基准电路实验结果表明,应用本文方法测试序列质量明显提高,相同故障覆盖率下,所需测试时间仅为典型方法的50%.  相似文献   
2.
针对集成电路测试时间长,导致测试费用高的问题,提出了一种基于有限扫描操作的扫描电路静态测试压缩方法.利用有限扫描操作代替全扫描操作,用有限扫描操作合并测试对,通过减少移位操作次数减少测试时间.同时,将启发武方法用于限制候选测试对数量,给候选测试对进行排序,降低计算复杂度,加速压缩过程.基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,本方法所需平均测试时间仅为典型方法的50%左右.  相似文献   
3.
简要介绍了USB技术的发展与现状;详细论述了USB系统的硬件结构;深入研究了USB系统的特点;探讨了USB系统目前仍在的问题。  相似文献   
4.
基于USB总线的数据采集/信号发生器的设计   总被引:3,自引:0,他引:3  
针对组建虚拟仪器时不可缺少的硬件部分及仪器与PC间的接口问题,依据USB1.1规范,采用USBN9604接口芯片和C8051F007单片机,开发了基于USB总线12bits字长的数据采集/信号发生器.该数据采集/信号发生器具有12位的分辨率,A/D转换速度100kbps,D/A转换时间10μs,经实验测试,设备运行稳定可靠.  相似文献   
5.
本文针对集成电路测试应用时间长,导致测试费用高的问题,提出了用有限扫描操作代替全扫描操作的有限扫描集成电路测试生成方法.通过将扫描输入端、扫描选择端和扫描输出端视为电路通用输入输出端,消除了测试生成过程中扫描操作与测试应用向量之间的差别,同时在扫描操作周期和功能时钟周期上检测故障响应,有效降低了测试时钟需求,在相同故障覆盖率下,明显缩短了测试应用所需时间.基准电路实验结果表明,本文提出方法所需测试应用时间仅为传统方法的50%左右.  相似文献   
6.
USB设备接口的研究与开发   总被引:1,自引:0,他引:1  
以开发USB设备接口为目的,利用USB接口芯片USBN9604,经过硬件设计和软件调试,开发出了一种USB设备接口,将这种接口用于基于USB接口的虚拟仪器的开发,经测试,其性能稳定,可靠性高,已应用于产品设备的开发中。  相似文献   
7.
本文从测控专业角度阐述“信号与系统”课程的特点,论述高等教育新形势下发展大学内涵式教育的必要性,提出以“信号与系统”课程为核心的课程群建设的思想和构建方法,藉此架构测控专业基础课、平台课与方向课之间的桥梁,加强课程间联系,帮助学生形成以被测量信息流为主线的知识体系,有效促进测控专业本科课程体系的建设。  相似文献   
8.
支持USB接口50MHz高速数据采集器   总被引:3,自引:2,他引:1  
USB为虚拟仪器系统中主机与测试设备之间的连接提供了理想的方式,文中针对这种新的情况,重点阐述USB高速数据采集器的设计思想、工作原理和实施要点,并结合数字示波器的典型应用示例说明这种系统开发方式的普遍意义.  相似文献   
9.
提出了一种改进扫描电路测试压缩方法。首先,通过基于向量删除的测试压缩去除测试序列中的冗余向量;其次,用消耗时钟较少的有限扫描操作代替全扫描操作,合并测试序列内部测试向量,减少测试时间;最后,采用启发式方法限制候选测试对数量,降低计算复杂度,加速测试压缩过程。基准电路实验结果表明,相同故障覆盖率下,该方法降低测试时间效果十分显著。  相似文献   
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