在系统可编程器件设计应用实例

介绍了Lattice/Vantice公司在系统可编程ISP（In-System Programmable)器件下载电路的设计及应用实例。     

电气安全性能测试耐压测试系统研究

为了配合仪器设备电气安全性能检测新国标的制定和实施,设计了符合IEC61010标准的耐压测试系统.测试系统包括程控电源、测试回路、信号采集、调理电路和单片机数据采集接口电路等部分.试验数据表明系统工作稳定,测试精度高.在0～20mA的测试范围内,测试精度达到±(1.5%mA±0.05mA).     

基于微流控芯片荧光检测的LED光源自适应补偿方法

针对微流控芯片免疫荧光检测中LED光源不稳定导致检测区和质检区荧光采集同步实时性较差的问题,提出了一种基于光源漂移特性的自适应补偿方法。通过分析光源呈负指数形式衰减的漂移特性,引入光源时变补偿因子,对光源进行自适应补偿,实现微流控芯片高精度、高稳定性检测。对比实验结果表明光源时变补偿因子具有自适应性,且经过补偿后,免疫荧光检测的分辨率达到0.01 ng/mL,CV值(离散系数,coefficient of variation)提高约50%,验证了其应用可行性。     

安规测试仪中绝缘电阻、泄漏电流测试系统设计

介绍仪器仪表电气安全性测试仪中绝缘电阻、泄漏电流测试系统的原理及设计,该系统由单片机系统、测试回路和计算机系统组成,它不仅符合IEC61010-2001标准要求,在0MΩ-2000MΩ绝缘电阻和0.01mA-20mA泄漏电流的测量范围内,该系统测量误差<±1%(1σ),精度高,同时结合PC机和单片机系统为测控核心,使系统操作方便,也符合仪器虚拟化发展方向。     

石英晶片镀膜频率监控技术研究

石英晶片镀膜是石英晶体谐振器生产中的重要工序之一,通过控制镀膜厚度使石英晶片谐振频率达到目标值.传统的镀膜采用时间控制方法,膜层厚度取决于镀源材料蒸发速率和镀膜时间,用该方法石英晶片谐振频率的控制精度较低.为提高石英晶片的镀膜精度,提出了基于晶体微量天平原理的晶片镀膜过程频率监控方案.重点探讨了镀膜过程中石英晶片和标晶谐振频率变化与镀膜厚度之问的关系,并通过实验给出石英晶片和标晶表面膜层沉积质量的比率关系.设计了监控晶片谐振频率的振荡器电路.实验证明,将研究的石英晶片镀膜监控技术应用于生产实际,可以显著提高镀膜后的石英晶片谐振频率的控制精度,具有较高的实际应用价值.     

π网络法测试石英晶片方法及系统设计

石英晶片电参数决定了其产品质量优劣，因此在石英晶片生产加工过程中精确测试其电参数尤为重要，符合国际标准的π网络法石英晶片测试系统由单片机，直接数字频率合成器及电压检测单元等组成，系统可测试1MHz-60MHz的石英晶片谐振频率，具有较高的重复精度，其性能指标优于国内普遍采用的振荡器测试系统和阻抗计测试系统。     

π网络法测量晶体频率的误差分析及校正

石英晶体谐振频率是石英晶体的重要电参数之一。为精确测量石英晶体的谐振频率,根据石英晶体的电模型及π网络法石英晶体测量系统中π网络的理论模型和实际模型的差异分析了影响石英晶体谐振频率测量精度的因素,并在此基础上提出了校正方法。实验结果表明,经过校正后石英晶体谐振频率的测量精度可达到±2×10-6。     

大型滚动轴承圈直径测量单片机系统的设计

为了实现现场准确和快速地测量大型滚动轴承圈的直径,介绍了一种新的用于大型滚动轴承圈内外直径测量的单片机系统,介绍了测量所使用的数学模型,测量结果的误差分析以及系统的硬件原理框图和软件流程图。系统的特点是用单片机进行测量控制,数据采集和数据处理,从而使系统具有对光栅尺由于刻划误差而造成的系统误差进行修正、测量自动化及仪器小型化等特点。     

石英晶体谐振器电参数模型及时测量的影响

论文分析了用阻抗计法测量石英晶体谐振器时，晶体的实际电参数模型与理论模型的差别及其对电参数测量精度影响的数量关系，提出了提高测量精度的方法和设计。采用新技术和方法研制的晶体自动测试系统，负载谐振参数的测量精度显著提高。这一工作对提高阻抗计型晶体现测试系统的测量精度，特别是提高晶体负载谐振频率和负载谐振电阻的测量精度具有重要意义。     

基于LM3914的电平切割细分电路

常规电平切割细分电路的细分数越高,细分电路所需的比较器也越多,会造成电睡结构烦杂,装调困难,这是限制细分数的实际原因。以点／线显示驱动器ＬＭ３９１４替代常规电平切割细分电路中的比较器阵列,可以减少比较器芯片的使用数量,提高电路的集成度,增强系统的可靠性。对ＬＭ３９１４采用级联,还可有效地提高细分电路的细分数。