石英晶片镀膜频率监控技术研究

石英晶片镀膜是石英晶体谐振器生产中的重要工序之一,通过控制镀膜厚度使石英晶片谐振频率达到目标值.传统的镀膜采用时间控制方法,膜层厚度取决于镀源材料蒸发速率和镀膜时间,用该方法石英晶片谐振频率的控制精度较低.为提高石英晶片的镀膜精度,提出了基于晶体微量天平原理的晶片镀膜过程频率监控方案.重点探讨了镀膜过程中石英晶片和标晶谐振频率变化与镀膜厚度之问的关系,并通过实验给出石英晶片和标晶表面膜层沉积质量的比率关系.设计了监控晶片谐振频率的振荡器电路.实验证明,将研究的石英晶片镀膜监控技术应用于生产实际,可以显著提高镀膜后的石英晶片谐振频率的控制精度,具有较高的实际应用价值.     

CF—910FFT分析仪的数据通信系统的研制

ＣＦ－９１０ＦＦＴ分析仪功能丰富，广泛应用于机械工程领域，但其仅能进行信号采集２和前级处理，通常解决的方法是将其与计算机相连，以实现模态识别，故障诊断等。论文首先介绍了ＣＦ－９１０ＦＦＴ分析仪的主要功能的接口，并设计制作了通用ＧＰ－ＩＢ接口卡，编制了相应的控制和数据传输程序，将ＣＦ－９１０ＦＦＴ分析仪与微机连接，构成一个完整的数据通信系统，从而实现对各种信号的多种后续处理。     

可调谐激光光谱系统中光学条纹的补偿方法

为了消除光学条纹对检测精度的影响,基于光学条纹的映射特性,提出了一种可有效补偿光路中平行介面造成的光学条纹的方法。在CO₂检测系统中进行了理论分析和实验验证,并展示了该方法的使用过程及补偿结果。结果表明,即使在光学条纹漂移的情况下,该方法仍可有效补偿光学条纹,使测量信号与标准气体吸收信号的拟合相关度由0.8298提升至0.9934,体积分数测量值标准差由1260×10-6降低至48.5×10-6。该方法极适合补偿检测器窗、气体池窗以及其它已集成于系统的光学元件造成的光学条纹,在可调谐二极管激光器吸收光谱技术领域具有较大的应用价值。     

动感电影运动控制系统研制

计算机控制系统控制穹幕影院的座椅,使之产生与银幕内容相配合的三维运动,观众在包括视觉,听觉,动感和力感的仿真环境下,得到身临其境的主观感受。计算机了出使支撑座椅的３个作动筒移动到指定位置的模拟电压信号,此信号与作动筒位置传感器的输出位置电压信号的差值作为伺服阀的控制电压信号。伺服阀根据控制电压的大小和方向向作动筒提供油压,使之产生相应速度和方向的三维运动。     

石英晶片的电参数模型分析与实验验证

研制晶片自动分选机的主要难点是晶片自动分选机测试系统的研制,其测量特点决定了考虑测量气隙时晶片的电参数模型不同于理想的电参数模型,建立了有气隙晶片的理论电参数模型,并讨论了气隙对频率测量的影响。有测量气隙时晶片的谐振频率的大小和起振难易主要取决于测量气隙的大小。根据有气隙测量时晶片谐振频率的测量原理进行了晶片自动分选机频率测试系统的设计。最后对建立的电参数模型进行了实验验证。     

石英晶体谐振器负载谐振参数测量方法的改进

在基于阻抗计方法测量石英晶体谐振器的负载谐振频率和负载谐振电阻时,由于负载电容的接入造成石英晶体谐振器与负载电容接点对地的高阻抗,使得接点对地分布电容和晶体插座电容成为影响其测量精度的主要原因,这种影响的数量关系可以根据石英晶体谐振器的实际电参数模型导出。采用内置的负载电容并由内置的电容计对等效负载电容实现实时测量,采用间接测量方法测量负载谐振电阻,可显著提高其负载谐振参数的测量精度。     

石英晶体谐振器电参数模型及对测量的影响

论文分析了用阻抗计法测量石英晶体谐振器时,晶体的实际电参数模型与理论模型的差别及其对电参数测量精度影响的数量关系,提出了提高测量精度的方法和设计。采用新技术和方法研制的晶体自动测试系统,负载谐振参数的测量精度显著提高。这一工作对提高阻抗计型晶体测试系统的测量精度,特别是提高晶体负载谐振频率和负载谐振电阻的测量精度具有重要意义。     

基于双H桥变换器的无刷直流电机转矩脉动抑制方法

针对无刷直流电机(BLDCM)的换相转矩脉动问题,提出了一种基于双H桥变换器的BLDCM转矩脉动抑制方法。通过双H桥变换器电路产生补偿或抵消电流,减小非换相相电流的波动,从而达到抑制BLDCM转矩脉动的目的。在MATLAB/Simulink下构建了BLDCM转矩脉动仿真模型并进行对比仿真,与传统PID控制方法相比,该方法非换相相电流波动在高、低速下分别降低了约70%和40%,平衡后的转矩波动降低了约80%。结果表明:所提方法对于BLDCM在高稳定度和高精度要求领域中的应用具有重要价值。