不同排列方式下500kV高压输电线建筑物周围电场计算

采用有限元-模拟电荷混合法,对500 k V高压输电线不同排列方式下周围建筑物及其邻近区域中的电场进行了计算。结果表明,在建筑物距离500 k V高压输电线中间输电线路水平距离相同的情况下,以倒三角排列方式使输电线路在建筑物楼顶及高出楼顶1.5 m处产生的畸变电场最小,水平排列次之,而三角排列最差。     

口腔正畸中瓷修复体托槽间接粘接的实验与临床应用研究

研究了口腔正畸间接粘接中瓷修复体与托槽粘接强度受到粘接处理方式和粘结剂的影响及其临床应用效果。粘接处理方式分为陶瓷偶联剂+氢氟酸酸蚀+喷砂组(A组)、氢氟酸酸蚀+喷砂组(B组)和陶瓷偶联剂+喷砂组(C组):选定4种粘结剂:Ormco光固化型、3M化学固化型、西湖化学固化型、京津化学固化型粘结剂，每组按照4种材料各粘接烤瓷试件16个。统计分析3个组抗剪切强度、粘结剂残留情况。结果表明:A、B组Ormco光固化型、3M化学固化型、西湖化学固化型和京津化学固化型粘结剂的抗剪切强度均高于C组(P <0.05); A、B和C组粘结剂总残留率逐渐降低(P <0.05)。其中A组Ormco光固化型、3M化学固化型、西湖化学固化型粘结剂残留率均低于B、C组(P <0.05)，京津化学固化型粘结剂残留率低于C组(P <0.05)。说明间接粘接中瓷修复体托槽粘接强度受到粘结剂材料和粘接处理方式的直接影响，采用Ormco光固化型粘结剂，并结合表面打磨、氢氟酸酸蚀等表面处理方法更能提升瓷修复体托槽粘接强度，临床应用结果显示这种瓷修复体托槽粘接方法的有效性。     

加氢催化剂器外预硫化技术现状

概述了加氢催化剂的预硫化方法的基本原理,介绍了采用不同硫化剂的预硫化技术现状及国内器外预硫化技术的研究现状。指出器外预硫化将不断取代器内预硫化,表明未来开发预硫化催化剂的研究方向和重点。     

颗粒阻尼器近似理论模型研究

颗粒阻尼由于其独有的优势特点,得到了国内外学者的广泛关注。然而尽管目前对于颗粒阻尼的研究很多,但大多集中在试验和仿真两方面。颗粒阻尼的高度非线性特性,使得很难从理论上对其进行定量分析研究,这也在一定程度上限制了颗粒阻尼技术的发展。针对这一问题,提出一种非线性颗粒阻尼器的线性等效方式,此等效方式能够在给定的振动环境下充分体现颗粒阻尼的耗能特点。将其应用于颗粒阻尼动力吸振器的模型简化,并与试验结果进行对比,发现理论模型计算的频响函数曲线与试验测得的数据吻合程度较高,由此证明了理论模型的准确性;研究还发现振动加速度是影响颗粒阻尼器耗能特性的主要因素,其对于颗粒阻尼器等效模型的三个主要参数均有不同程度的影响,且这些参数随振动加速度有效值的变化规律与通过试验和仿真得到的结论相一致,其中人们最为关心的等效黏性阻尼系数,其随振动加速度的变化符合Gamma分布。     

谈莒南县水土保持治理

通过分析莒南县水土保持现状,提出了进行水土保持治理的思路和任务目标,为莒南县水土流失治理提供了决策依据。     

颗粒阻尼吸振器试验研究

结合动力吸振器的工作原理,将颗粒阻尼器弹性支承于主结构上组成颗粒阻尼吸振器。颗粒阻尼吸振器旨在解决两个问题:(1)为传统动力吸振器提供较大阻尼抑制共振峰而不影响其吸振性能;(2)微小振动加速度(小于1g)或振动惯性力无法克服颗粒间的静摩擦力时传统颗粒阻尼器的失效问题。对安装了颗粒阻尼吸振器的悬臂梁结构进行了动力学特性试验,与同等条件下刚性支承颗粒阻尼器以及传统动力吸振器进行了比较,试验结果表明颗粒阻尼吸振器达到了预期的设计效果,很好地弥补了颗粒阻尼在微振动环境下的不足。此外,颗粒阻尼吸振器的阻尼仅取决于吸振器质量的加速度,与主从质量之间的相对速度无关,故大阻尼对其吸振性能不产生任何影响,可以按照传统的无阻尼动力吸振器进行参数设计。     

电子信息安全技术存在的问题和对策

我国信息技术发展迅速,电子信息也成为人们热门的话题,电子信息在各个方面都会影响到人们的生活,人们对电子信息的需求也在不断增加。与此同时,电子信息安全问题也成了人们的焦点,本文主要以电子信息安全为基础,介绍了信息化建设,概况了电子信息安全技术,并且提出解决电子信息安全的对策。     

浅谈当代壁画设计中的和谐本质

现代社会发展的方向是和谐,和谐这个概念又是很复杂的,它既可以应用在哲学领域,又可以应用在科学或艺术领域。本文主要从当代壁画设计的方方面面看它所贯穿其中的和谐本质。     

一种改进的一次性口令认证方案

借鉴质询响应方案的思想设计了一种新的一次性口令认证方案。与传统方案相比,该方案安全性高、运算量小,提供了通信双方相互认证的功能,并且能够抵抗重放攻击和冒充攻击,可以增强应用系统的安全性。     

金属/陶瓷界面的第一原理研究

利用第一原理方法系统地研究了Ni与过渡金属氧化物ZrO2界面的能量学、原子结构以及键合特征.结果表明界面键中的共价键因素是控制Ni与过渡金属氧化物ZrO2之间相互作用的主要因素,与一般所认为的镜像电荷相互作用模型相悖.随着陶瓷层的增厚,界面的结合能逐渐减弱.