基于MATLAB的气缸摩擦力补偿与仿真研究

文章针对气缸摩擦力对系统控制性能造成的不良影响,提出了一种新的摩擦力补偿方法。首先对气缸的摩擦力进行了测试分析,然后通过在控制信号上叠加颤振信号来补偿气缸摩擦力,消除了气缸摩擦力对系统稳定性及定位精度的影响。最后通过MATLAB仿真表明所用的补偿方法的正确性和有效性。该补偿方法具有较高的工程应用价值。     

S3 Savage4

S3公司作为Intel指定的AGP 4X合作伙伴,第一个推出了支持AGP4X的显示芯片—Savage4。它具有双重的渲染管道,最大32M的板载显存,更大的带宽和支持AGP4X。正式发售时将会分成两个版本:     

GPRS按时长计费模块的优化与应用

本文针对某通信运营商GPRS按时长计费模块,分析了该模块存在的处理瓶颈及订购关系数据不一致问题,基于现有计费系统中GPRS话单处理流程,新增GPRS时长计费话单处理模块。该模块通过读取内存数据库方式获得BOSS中订购数据,并针对不同场景对异常和交叉话单进行修正处理。通过比较优化前后系统性能情况,数据表明优化后模块处理性能提升显著,确保了模块间数据一致性,较好地支撑了业务发展需求。     

ICP-OES同时测定钒电池级硫酸氧钒中杂质铁铬镍钾钠钙硅铝

建立了采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)同时测定钒电池级固体硫酸氧钒中8种关键杂质含量的分析方法,检测范围包括0.001%~0.100%铁铬镍和0.005%~0.100%钾钠钙硅铝。试验考察了样品中高钒基体和硫酸根离子共存体系下基体效应、光谱干扰以及连续背景叠加等影响因素对痕量杂质测定的干扰。研究得到:硫酸根离子对测定无影响,高浓度钒离子的基体效应或连续背景叠加对钾钠产生负干扰,对砷钴铁镍等其余杂质元素产生正干扰的试验结论,并且方法采用基体匹配法和同步背景校正法相结合方式消除高钒基体对杂质测定的影响。通过光谱干扰试验分类归纳总结了钒基体对杂质元素的光谱干扰情况,并且优选了元素分析谱线、背景校正区域以及光谱仪工作条件。分析方法的技术性能达到:背景等效浓度-0.000 3%~0.000 3%,元素检出限0.000 1%~0.000 3%,含量在0.001%~0.007%范围内RSD10%,回收率91.0%~110.0%。     

低压齐纳二极管的研制

本文论证了面结型低压齐纳二极管的击穿机理为隧道击穿，提出了一种新型的面结型低压齐纳二极管的结构，以及相应于此种结构的工艺流程，论述了衬底材料的选择等问题，实验结果表明，此种结构是成功的，做出符合用户要求的低压齐纳二极管。     

GJ70高架龙门式架桥机：上海杨浦大桥主引桥吊装主机

杨浦大桥是继南浦大桥建成后在上海的又一座横跨黄浦江的斜拉桥,建成后居世界同类型斜拉桥之首。杨浦大桥位于杨浦区宁国路码头,大桥总长7658m,主桥净跨度602m,通航净高48m。主桥为钢梁与钢筋砼桥面板叠合梁斜拉桥,引桥为预应力钢筋砼梁板与钢筋砼墩台结构。我公司承担引桥预应力 T 形梁和板梁的结构吊装。杨浦大桥属城市内桥梁,特别是浦西引桥通过闹市区,施     

Data Shaping技术及其在Web中的应用

文中介绍Data Shaping技术及其语法规范和特点,结合实际的例子讲述在Web中的应用。最后,与传统的JOIN技术作比较,简要介绍Data Shaping的优势。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钒铬钛合金中11种元素

以V₂O₅、Cr₂O₃和TiO₂直接还原熔炼钒铬钛合金的新工艺具有显著降低生产成本优势,但需解决原料、还原剂以及熔炼设备所引入杂质对产品品质的影响,为此,建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定V-4Cr-4Ti合金中Al、As、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、P、K、Na等11种微量杂质元素分析方法。方法重点考察了在V、Cr、Ti三元合金组分共存体系下,基体效应、光谱干扰和连续背景叠加等影响因素,归纳了基体及共存组分对待测元素高灵敏分析谱线的光谱干扰情况,优选了待测元素的分析谱线、背景校正区域以及光谱仪工作条件等参数。采用基体匹配和同步背景校正法消除高V、高Cr和高Ti共存基体的影响。结果表明:Al、As、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、P的检测范围为0.001%~0.25%,K、Na的检测范围为0.002%~0.25%;校准曲线线性相关系数不小于0.9995,方法的测定下限为0.0012%(K)、0.0015%(Na)、0.0003%~0.0009%(其余元素)。按照实验方法测定4个V-4Cr-4Ti合金样品中Al、As、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、P、K、Na,0.x%水平测定结果的相对标准偏差(RSD,n=8)小于5%,0.0x%~0.00x%水平测定结果的相对标准偏差(RSD,n=8)小于10%,即使低于方法检测下限0.001%水平测定结果的相对标准偏差(RSD,n=8)也小于15%。按照实验方法对4个V-4Cr-4Ti合金样品中Al、As、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、P、K、Na进行加标回收试验,回收率为90%~114%。实验方法用于测定3个V-4Cr-4Ti合金样品中Al、As、Co、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、P、K、Na,与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定结果相吻合。     

应用于BOSS系统的自动化回归测试技术研究

本文介绍了一种应用于BOSS系统的自动化回归测试方案,包括该方案的需求背景、系统架构、主要模块及运行流程,并对该方案的实施结果进行了总结。