ATE功能测试码生成方法

文中简要介绍了芯片测试,对ATE功能测试码生成给出了一般性原则,同时介绍了一种针对数字电路的简易、经济的适合于任意ATE功能测试码真值表生成方法。     

Making your own Automatic Test Equipment has never been easier

<正>Using Planet ATE's SOC "all-in-one" pin electronics solutions it is easy to make your own tester, ATE or to modify load boards for more advanced test capabilities.     

自动测试设备

本文主要介绍了ATE自动测试设备的类型及其特点,并简要介绍了其发展状况.     

RF Testing on a Mixed Signal Tester

In this paper, testing of radio frequency (RF) devices with mixed-signal testers is discussed. General purpose automatic test equipment (ATE) will be used. In this paper, a more universal test structure utilizing RF building blocks is proposed. A global positioning system (GPS) device is used as an example to illustrate how to develop the RF test plan with this usage. The test plan developed includes fast, cost-effective and dedicated circuitry.

Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现

Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法.     

一种高效的中央空调控制器主板的测试系统设计

本文介绍了一套基于开放负载测试策略的中央空调控制器主板高效率测试系统。该系统可实现中央空调控制器板上的继电器输出电路、电子膨胀阀电路、PG电机电路、直流电机电路、电源模块、温度采集电路、开关故障检测电路模块、通讯电路进行集成式的自动测试,通过引入开放负载测试策略的思想,结合嵌入式控制及检测电路开发、电脑测试软件开发、辅助机电模块的开发,形成一套高效的ATE测试系统。     

解读推出LXI的思路和LXI的特点

本文依据有关LXI的一般性报道及测试技术和相关的科学技术现状,分析了推出LXI的思路及该平台的特点和应用前景。     

SoC芯片测试设备现状

随着SoC应用的日益普及,对SoC测试技术提出了越来越高的要求,掌握新的测试理念、新的测试流程、方法和技术,是应对SoC应用对测试技术提出的挑战,适应测试发展趋势的必然要求。介绍了应对SoC测试技术挑战的基本方法和设备结构及几家设备公司SoC芯片测试设备概况。     

Analysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes

We present an analysis of test application time for test data compression techniques that are used for reducing test data volume and testing time in system-on-a-chip (SOC) designs. These techniques are based on data compression codes and on-chip decompression. The compression/decompression scheme decreases test data volume and the amount of data that has to be transported from the tester to the SOC. We show via analysis as well as through experiments that the proposed scheme reduces testing time and allows the use of a slower tester. Results on test application time for the ISCAS'89 circuits are obtained using an ATE testbench developed in VHDL to emulate ATE functionality.     

TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备（ATE）BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI（Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。