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基于IEEE 1500标准的IP核测试壳设计   总被引:7,自引:3,他引:4  
乔立岩  向刚  俞洋  王帅 《电子测量技术》2010,33(7):88-91,95
随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SOC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,设计标准的不兼容等因素,使得SOC的测试变得越来越困难。IEEE1500标准设立的目标是标准化IP核提供商与用户之间的测试接口,简化核测试信息的复用。本文在研究IEEE1500标准的硬件结构基础上,讨论了1500的测试指令集,然后以基准电路集ISCAS89中的s349时序电路为例,对其进行全扫描设计之后,详细说明了基于IEEE1500标准的IP核测试壳各部分的设计过程,最后通过仿真实验,验证了在不同测试指令和故障模式下,测试壳的有效性。  相似文献
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