基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题.根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境,设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本,验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化.测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构,提升了测试数据的可分析性.     

标准测试数据格式（STDF）文件的研究

介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式（STDF）的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中,以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准化的新思路。     

ATE测试数据分析与转换

传统的专有测试孤岛在生产中产生浪费和延误,而测试设备供应商间的竞争又导致统一测试环境难以实现。本文针对不同的自动测试设备(automatic test equipment,ATE)生成测试数据存在不一致性,造成数据交互效率降低和成本无益浪费的情况,根据实际需要,进行文件转换,以达到在数据采集阶段进行格式统一的目的。