Exact probabilistic testability measures for multi-output circuits

The computation of probabilistic testability measures has become increasingly important and some methods have been proposed, although the exact solution of the problem is NP-hard. An exact analytical method for singleoutput combinational circuits is extended to deal with multi-output circuits. Such circuits are reduced to singleoutput ones by introducing a dummy gate, the X-gate, and applying to the resulting graph the analysis based on supergates.     

基于信息论的软件测试性分析方法的改进研究

随着软件产业的不断发展,软件不断向系统化、集成化发展,软件所实现的功能越来越强大,复杂程度越来越高,最终导致软件质量越来越难以保证。软件测试性分析能够提供软件测试性信息,通过这些信息设计人员能在设计和测试执行之前确定测试的难易程度和所需资源,从而决定是否需要修改设计以得到一个更易测试的软件。以信息论软件测试性分析方法为基础,将程序转化为信息转换图进而利用信息论的方法进行测试性分析,最后引入模糊综合评价的方法对分析结果进行评价,并通过实例对该方法的有效性进行验证。     

工业软件现场测试中的拆分及其测试数据设计

在工业软件的用户生产现场测试中,可能由于操作风险、用户生产限制等约束而导致测试不充分,针对实践中的难点提出新的现场测试过程及其测试数据生成方法。定义了测试拆分子集及相关属性概念,根据现场因素设计的测试拆分子集提高了现场测试可主动性;综合现场因素设计拆分方案,采用针对性的辅助管理程序引导每个测试拆分子集的现场测试的实施;通过对生产现场的历史数据的处理建立针对各测试拆分子集的测试准备数据库,以搜索测试准备数据库的结果为依据并结合现场因素设计现场主动测试的输入数据,并说明了实践中的综合实施过程。通过石化生产优化控制系统的现场测试的实际案例,说明了这种方法能够在预防风险的前提下显著提高现场测试的充分性和测试效率。     

固有测试性的Luenberger状态观测器设计法研究

针对固有测试性定量设计的困难,本文提出了Luenberger状态观测器法,叙述了线性系统固有测试性设计流程,简介了非线性系统固有测试性设计的思路。该方法可用Matlab软件编程实现,易于广泛推广。     

基于因果图的软件测试性影响因素分析

为了系统地确定软件测试性影响因素,提出一种基于因果图的分析方法.方法首先确定软件类型,分析软件特点;接着确定测试性的具体表现形式,通过对具体形式的原因分析构造因果图,分析因果图中的最小因素;最后整理出影响因素.方法能全面、系统地得到测试性影响因素,对嵌入式软件的成功分析表明了方法的可行性.     

标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨

本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总线”第一部分“标准测试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。阐述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法,综述了美国相应标准ＩＥＥＥ Ｓｔｄ １１４９．１公布前后提出和试行在印制板级和实验级实现的若干方法和方案,包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实践中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发     

基于树形解压缩器的低测试数据量方法

提出一种由异或门按照完全二叉树形状排列而成的树形向量解压缩器。该解压缩器的少数输出端需要由大部分的输入端来确定,而且该结构对其输出值的确定关系类似于扫描链中确定位的分布概率,可有效降低测试数据量。实验结果表明,对于ISCAS’89基准电路,该结构最高将测试数据量压缩了77倍。     

一种电子系统测试性模型的研究

测试性是系统和设备的一种便于测试和诊断的重要设计特性,对现代的航空电子设备、武器装备等复杂系统的维护性、可靠性和可用性有很大影响。在对测试性建模理论进行研究的基础上,借鉴多信号流图模型和eXpress信息模型,提出了一种适合电子系统的测试性模型——ESTIM(electrotic system testability information model)模型,该模型在表示方法上与EDA软件相兼容,可结合功能相关性和故障模式相关性方便地对电子系统进行测试性分析。     

边界扫描测试优化算法

分析全0(1)+01(10)并行序列算法、极大权值极小相异性算法、自适应完备诊断算法和遗传算法4种边界扫描测试生成算法,对比其各自的优缺点。通过DEMO板互连测试,对比测试时间和紧凑性指标,结果表明遗传算法是相对最优的算法,能生成具有抗征兆误判能力且紧凑性较好的测试矢量。