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随着集成电路特征尺寸不断缩小,软错误已经成为影响电路可靠性的关键因素.计算软错误影响下逻辑电路的信号概率能辅助评估电路的可靠性.引起逻辑电路信号概率计算复杂性的原因是电路中的扇出重汇聚结构,本文提出一种计算软错误影响下逻辑电路可靠度的方法,使用概率公式和多项式运算,对引发相关性问题的扇出源节点变量作降阶处理,再利用计算得到的输出信号概率评估电路可靠度.用LGSynth91基准电路、74系列电路和ISCAS85基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法准确有效. 相似文献
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随着集成电路工艺尺寸不断缩小,电路规模不断增大,要得到很高的小时延故障覆盖率所需的测试向量越来越多,致使小时延故障模拟成本越来越高.为了降低模拟成本,提出一个高效的小时延故障模拟器.模拟方法中引入新的波形表达方式,按电路结构的拓扑顺序进行分级模拟,最后可得到每个故障的检测区间,并且应用时延故障概率分布来计算故障覆盖率.实验结果表明,此方法能大幅降低模拟时间和内存消耗. 相似文献
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提出利用瞬态电流测试(IDDT Testing)方法检测数字电路中的冗余固定故障。检测时采用双向量模式,充分考虑逻辑门的延时特性。针对两类不同的冗余固定故障,分别给出了激活故障的算法,在此基础上再对故障效应进行传播。SPICE模拟实验结果表明,该方法能有效地区分正常电路与存在冗余故障的电路,可以作为电压测试方法的一种有益的补充。 相似文献
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为了更好地研究组合逻辑电路的竞争冒险现象,提出了一种关于组合电路竞争冒险的波形模拟方法,利用基于布尔过程的波形模拟器对电路进行模拟.该方法为检测电路中的竞争冒险现象提供了帮助,能有效降低对某些尖峰脉冲敏感的负载电路所产生的影响.实验结果证明了该方法的可行性和有效性. 相似文献
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设计了一种基于改进共源共栅电流镜的CMOS电流比较器,该比较器在1 V电压且电压误差±10%的状态下都正常工作,同时改进后的结构能够在低电压下取得较低的比较延迟。电路的输入级将输入的电流信号转化为电压信号,电平移位级的引入使该结构能够正常工作在不同的工艺角和温度下,然后通过放大器和反相器得到轨对轨输出电压。基于SMIC 0.18μm CMOS工艺进行了版图设计,并使用SPECTRE软件在不同工艺角、温度和电源电压下对电路进行了仿真。结果表明,该电路在TT工艺角下的比较精度为100 nA,平均功耗为85.53μW,延迟为2.55 ns,适合应用于高精度、低功耗电流型集成电路中。 相似文献
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