全自动凯式定氮仪校准方法

全自动凯式定氮仪作为测定蛋白质含量的常规分析仪器．已广泛应用于食品及相关行业。如何对其系统性能进行检测和评定,一直没有相关的技术依据。本文根据全自动凯式定氮仪的技术特性,参考相关国家标准,研究并制定出全自动凯式定氮仪校准方法,为计量技术机构开展校准工作和企业质量控制提供了技术依据。     

含负折射率材料的1维光子晶体掺杂缺陷模研究

为了研究含有负折射率材料的光子晶体掺杂缺陷模的光学传输特性,利用传输矩阵理论进行数值分析.采用插入和替代两种方式对排列整齐的光子晶体进行掺杂,产生了缺陷模式.结果表明,引入正折射率缺陷只能在布喇格带隙中产生缺陷模,引入负折射缺陷能够同时在全方位光子带隙和布喇格带隙中产生缺陷模.同时研究了掺杂方式、入射方向、缺陷厚度、缺陷位置、缺陷类型对缺陷模式的影响,并对含有两层缺陷的光子晶体进行研究,得到两缺陷层的距离与带隙产生的关系,即距离越近越容易产生缺陷模式,且缺陷模的深度越深.这对于制造新型的全方位滤波器是有指导作用的.     

浅谈分光光度计检定过程中应注意的事项

分光光度计是制药厂、化工厂、研究所使用最普遍的分析仪器之一,在分光光度计的使用及检定中,它的准确程度直接关系到所测数据的可信性及科学性。所以提高检定准确度显得尤为重要。本文针对分光光度计的检定与使用应注意的事项进行了阐述。     

数字电视系统中PSI及SI的基础知识及应用

一PSI基础知识 节目专用信息（Program Specific Information，PSI），由MPEG标准定义。PSI包括了NIT、RAT、PMT及CAT表。其中，NIT虽属于PSI范畴，但由于其具体定义并未在MEPG标准中给出，而是由DVB定义的SI标准中给出．且在实际应用中也多由SI系统设备生成，故有时候也将NIT表归入SI范畴。     

变周期结构光子晶体的带隙研究

研究了变周期结构的光子晶体,即两种介质的厚度随单元数增加而变化,并对其光子能带特性进行了分析.研究发现,相对于周期性光子晶体,相同单元数的变周期结构的光子晶体具有更宽的光子能带带隙,且周期非线性变化比线性变化结构有更宽的光子带隙,这样对于同样宽的带隙的光子晶体,可采用较少单元数的变周期结构光子晶体,这一结果有助于光子晶体的广泛应用.     

数字电视系统中PSI及SI的基础知识及应用

PSI与SI都是数字电视系统的重要信息。PSI是MPEG标准规定的用于提供给解码器所需解码参数的信息。SI是由DVB标准定义的重要信息。其作为PSI的补充，不仅用于提供接收解码器解码所需解码参数的信息，还提供了如频道名称等等其他有用的信息。本文首先介绍了PSI及SI的基础知识，并结合实际情况进行阐述。深圳有线电视台所使用的PSI及SI设备，结合实际，说明这些表格是如何产生并如何应用于数字电视系统的。     

光通信中高精度激光束准直系统优化设计

基于空间解析几何与矢量形式的折射定理为基础,研究了非球面、非轴对称的激光束准直光学系统,并对空间光线的传输进行了严格的理论推导,得出了光束发散角的传递矩阵递推公式,并对激光束的发散角进行了优化设计.利用激光束质量诊断仪对准直系统的发散角进行了实验测试,结果表明准直系统能达到较高的准直精度.本设计方法能广泛应用于复杂的非球面光学系统设计中.     

脉冲激光沉积技术沉积温度对PZT/LSAT薄膜生长取向的影响

采用固相法分别制备了标准摩尔配比和铅过垦10%的两种靶材.并利用脉冲激光沉积技术(PLD)在镧锶铝钽(LaSrAlTaO3,LSAT)单晶衬底上成功制备了锆钛酸铅(Pb(Zr0.3Ti0.7)O3,PZT)铁电薄膜,在550～750℃沉积温度范围内研究了PZT薄膜的生长取向和铅含最对薄膜生长取向的影响.利用X射线衍射(XRD)仪和原子力显微镜(AFM)表征了薄膜生长取向和表面形貌.XRD测量表明在标准摩尔配比情况下薄膜牛长从550 C近似c轴取向逐渐过渡到750℃近似a轴取向,而在铅过量情况下薄膜生长取向无明显过渡性变化;AFM测量表明PZT薄膜在近似C轴和a轴生长情况下,表面均方根(RMS)粗糙度分别为16.9 nm和13.7 nm,而在混合生长无择优取向的情况下,薄膜表面均方根粗糙度达到68 nm,这可能是两种取向竞争生长的结果.     

PCVD单模光纤中的材料组成和结构设计

在简要介绍PCVD工艺基本原理的基础上，阐述了PCVD单模光纤的材料组成和结构，对采用功能梯度的材料组成和结构设计以及粘度匹配对降低光纤的衰减、提高光纤的抗弯曲和抗氢损等特性进行了简单的分析和讨论。