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1.
本文比较了中子辐照。压缩变形和原生LEC砷化镓等三种不同来源样品的EPR“As_(Ga)”的Hamiltonian参数。并系统地研究了EPR“As_(Ga)”的浓度和低温光猝灭行为随退火温度的变化,从而进一步验证了EPR“As_(Ga)”的本性,即除孤立As_(Ga)反位原子外,还可能包括As_(Ga)的一些空位络合物。这些不同本性的EPR“As_(Ga)”缺陷及其它有关的缺陷在样品热处理过程中可能相互转化。按照物理化学中Le Chatlier原理,缺陷的原始浓度和晶体内部应变能似应是引起这些转化反应的重要因素。  相似文献   
2.
304不锈钢精铸件点缺陷的形成与控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对典型304不锈钢精密铸件内出现的黑色点缺陷,对其表面形貌、成分进行了分析,并在此基础上总结了缺陷的形成机制,确定了相应的防止措施。研究结果表明,铸件内的点缺陷可以划分为两类:一类具有不规则截面,为脱蜡过程中剩余腊料的燃烧残留物;另一类为熔炼过程中,由于脱氧剂和除渣剂的去除不彻底而引入的夹杂。通过优化脱蜡和熔炼工艺,使得铸件内的点缺陷得到了很好的控制。  相似文献   
3.
ZnO压敏陶瓷的非线性功能添加剂   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文采用单元掺杂与多元掺杂的方法,系统研究了几种过渡金属氧化物添加剂在控制ZnO压敏陶瓷非线性方面的作用,并根据金属阳离子外壳层电子结构稳定性和缺陷化学反应进行了分析,认为阳离子具有不饱和外层电子结构且半径与Zn^2+离子相近的过渡金属氧化物能改善ZnO压敏陶瓷非线性。  相似文献   
4.
晚秋的北京格外的凉,小编最近也发烧感冒了,身体感觉很是不好,现在到是痊愈了。小编也不失时机的去了趟香山。看了把红叶,虽然没有红透、红遍,但还是勾起残奥会闭幕式那纷纷红叶的回忆。最近我买了一个艾利和的U15送人,感觉这款MP3真的很是不错,值得推荐,整体感觉和细致的画面菜单让人感觉很好,唯一一点缺陷是机身有点厚。又快到年底了,又是总结和展望之际……  相似文献   
5.
本文利用分子动力学方法研究了GaN在质子辐照下的损伤。对不同能量(1~10 keV)初级离位原子(PKA)引起的级联碰撞进行了研究,分析了点缺陷与PKA能量的关系、点缺陷随时间的演化规律、点缺陷的空间分布及点缺陷团簇的尺寸特征。研究结果表明,点缺陷的产生与PKA能量呈线性关系,不同类型的点缺陷随时间演化规律相似,点缺陷多产生在PKA径迹旁,点缺陷团簇多为孤立的点缺陷和小团簇。  相似文献   
6.
为配合6H-SiC中化学无序对其导电性能影响的研究,本研究运用经典分子动力学方法,采用LAMMPS软件对6H-SiC的线性级联碰撞过程进行了模拟,给出了在不同能量、不同种类PKA(Primary Knock-on Atom)的情况下,6H-SiC单次线性级联碰撞和多次线性级联碰撞过程中主要点缺陷的演化过程,并统计了多次级联碰撞后化学无序的演化和六种点缺陷各自最终所占的比例。结果表明,级联碰撞产生的Si–Si键比C–C键更易形成且更加稳定,Si–Si键主要由SiC反位缺陷形成, C–C键主要由C间隙原子聚集形成, PKA的种类及初始能量影响点缺陷的产额和化学无序的程度,但不影响六种点缺陷各自的占比。  相似文献   
7.
采用超高压电镜与离子加速器相连结的复合辐照装置,研究了注He对低活性Fe-Cr-Mn(W,V)合金辐照产生的点缺陷及二次缺陷行为的影响.实验结果表明:辐照初期形成的点缺陷与He相互作用,进而影响二次缺陷(位错、位错环和空洞)的形成;He明显促进位错密度增大和空洞核心形成,并导致空洞肿胀增加.对辐照产生的点缺陷与He相互作用的机理进行了理论分析。  相似文献   
8.
基于密度泛函理论的第一性原理方法,研究了点缺陷和Nb原子掺杂对α-Zr力学性质的影响。结果表明,单空位引入使得α-Zr的剪切模量增大,Nb原子掺杂使得α-Zr的剪切模量下降。通过计算含不同点缺陷的α-Zr三维杨氏模量,得到点缺陷引入和Nb掺杂均会使α-Zr结构的各向异性减弱,从而可以在一定程度上缓解因各向异性导致的锆合金辐照效应。  相似文献   
9.
钨(W)具有高熔点、高热导率和优异的抗辐照能力等优点,是未来聚变堆面向等离子体部件的重要候选材料。然而中子辐照后的纯W中会产生空洞超点阵,严重影响其服役性能。本文改进了辐照条件下纯W中空洞超点阵形成过程的相场模型,采用更合理的体系总自由能函数表达形式,且考虑了空间与时间上随机分布的辐照点缺陷的产生。模拟结果表明:辐照过程中,间隙原子的定向扩散及其与空位的相互作用是空洞超点阵形成的主要原因;间隙原子沿不同方向的定向扩散形成了不同类型的空洞点阵;点阵中空洞的排列会随模拟时间的延长变得有序,空洞尺寸也会变得基本一致,而空洞形状并非标准的圆形,模拟结果与实验结果基本一致。  相似文献   
10.
针对TFT-LCD点缺陷的特征和检测方法,介绍了机器视觉系统的基本构成,提出了一种基于Visual C++6.0集成开发环境,以EURESYS的eVision作为机器视觉和图像处理核心软件的TFT-LCD点缺陷检测方法。实验结果表明,该方法能够快速高效地实现点缺陷的自动检测功能,具有良好的鲁棒性,并为后续复杂缺陷的检测应用提供了一条参考思路。  相似文献   
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