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1.
天津大学在国家“863”新材料领域的资助下,研制开发新型氧敏薄膜材料,研制出近百个A/F传感器样件。该样件材料新颖,结构简单,响应速度快,成本低,具有独立知识产权。装在夏利车上,与国外生产进行了排放控制试验比较。试验结果表明,控制能力达到国外生产件水平;响应速度比后者快。 相似文献
2.
采用溶胶-凝胶法并用两种不同的工艺制备γ-氧化铝改性膜:其一为通过掺杂硼来制改性膜;其二为通过溶液浸渍钾盐溶液制得改性膜。考察了两种改性工艺对膜的微观结构、晶相组成和孔结构的影响。结果表明:采用溶胶内掺杂硼的改性工艺制得的膜,表面平整;由溶液浸渍工艺改性制得的膜微观表面凹凸不平,孔易被沉积成分所堵塞,但可使改性成分有效地富集于孔内部,并且两种工艺制得膜的晶相均为γ-氧化铝相与复合相,表明第二组分已被成功地引入到γ-氧化铝膜组分中。采用溶胶一凝胶法制备γ-Al2O3,改性膜的孔结构明显优于由溶液浸渍工艺制得的改性膜的孔结构。 相似文献
3.
采用溶胶-凝胶法制得具有良好热稳定性的γ-Al2O3复合膜,采用SEM和X-射线衍射技术考察了制得的γ-Al2O3复合膜的微观形貌和晶相,并通过对复合膜的BET比表面积和孔径分布等进行表征,来探讨1000℃时膜结构的稳定性.结果表明,由溶胶-凝胶法制得的γ-Al2O3复合膜,呈均匀的网状结构,无剥落现象,与载体结合良好;经1000℃煅烧5小时后其BET比表面积和孔容只是略有减少,分别为4.1136m2·g-1和0.009787cm3·g-1,孔径分布变化幅度也不大,维持在25~100A的范围(平均孔径为95.1628A). 相似文献
4.
溶液雾化微波等离子体CVD法制备SrTiO3薄膜 总被引:7,自引:0,他引:7
研究了一种新型高效制备多组分陶瓷薄膜的方法,它采用可溶性无机盐溶液雾化为反应膜,利用微波等离子体化学气相沉积工艺在Al2O3基片上制备了SrTiO3基陶瓷薄膜,实验结果表明,薄膜沉积时衬底温度对成膜的相组成与结构产生重要影响,本实验中当沉积薄膜衬底温度在700℃时,可以制备出单一相组成,符合化学计量比,结晶性较好,晶粒度呈球形且均匀分布的SrTiO3薄膜,通过对不同氧分压下薄膜电阻测试,发现此SrTiO3薄膜在O2 N2气氛中氧浓度由1%变化到20%时,其电阻值由5.0MΩ变化到2.5MΩ,从而显示出一定氧敏性能。 相似文献
5.
6.
7.
掺杂Mg2+对钛酸锶薄膜氧敏性能及电阻温度系数的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
利用溶胶-凝胶的方法制备钛酸锶氧敏薄膜,该薄膜是制造电阻型氧敏传感器的一种潜在材料。在钛酸锶中掺杂不同含量的镁离子,形成SrTil-xMgxO3薄膜,其中Mg的含量,即x值分别为0,0.05,0.10,0.15,0.20,0.25,0.30。镁在钛酸锶中取代钛位,形成受主掺杂。测试不同氧分压(0~10^5Pa)、温度(600~800℃)下薄膜的电阻。发现掺镁的钛酸锶在氧化气氛下是p型半导体。并且当x值(镁的含晨)在0.10~0.15之间、较低氧分压下,薄膜的电阻温度系数接近零。此外,还从缺陷化学反应角度讨论了此现象出现的原因。 相似文献
8.
实验以三氯化镓为原料,柠檬酸为络合剂,通过NH3·H2O调节pH值,得到透明稳定的前躯体溶胶,红外光谱分析表明上述溶胶在向凝胶转变过程中,发生镓与柠檬酸的络合,并在干燥过程中依靠氢键形成大分子聚合物.采用提拉涂覆溶胶-凝胶法在多晶氧化铝基片表面形成凝胶膜后,经800℃下热处理,凝胶膜转化为单斜相β-氧化镓陶瓷薄膜.重复镀膜和热处理及超声清洗过程8个~10个周期,最后在800℃下烧结,保温1h,得到粒径为50nm~100nm左右的多孔纳米薄膜.采用自制系统检测β-Ga2O3薄膜的氧敏性能,结果表明Fe掺杂的氧化镓薄膜材料,在400℃~800℃范围内,在理论空燃比附近,电阻突变幅度大于2个数量级,具有较高的灵敏度. 相似文献
9.
电泳沉积法γ-Al2O3微孔膜的制备与表征 总被引:5,自引:1,他引:5
采用电泳沉积法制备γ-Al2O3微孔膜,考察了干燥及烧成制度对膜形成的影响,并用IR,XRD,SEM,N2吸附-脱附等测试手段对γ-Al2O3微孔膜进行了表征。结果表明:采用电泳沉积法可成功地制备均匀的γ-Al2O3保护膜;实验中采用室温慢速干燥法,制得了完整的凝胶膜,经过焙烧可获得与基片结合良好的γ-Al2O3多孔膜,在焙烧过程中,γ-AlOOH发生如下的晶型转变:γ-AlOOH→345℃γ-Al2O3,并且随着焙烧温度的升高,γ-Al2O3膜的结晶性得到改善。此外,γ-Al2O3膜的断面结构较疏松,膜厚度大面均匀:一次成膜厚度达十几μm,γ-Al2O3微孔膜的孔径尺寸为纳米级。 相似文献
10.
本实验采用无机盐为原料的溶胶-凝胶法制备了复合氧化物La2-xSrxNiO4薄膜,研究了它的阻温特性和氧敏特性,并采用XRD,SEM,AFM(原子力显微镜)等对该薄膜的结构进行了表征。 相似文献