X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量

阐述应用X射线荧光光谱法(XRF法)检测银首饰合金中的铅元素。针对不同纯度银合金的工作标样,分别利用波长色散X荧光光谱仪和能量色散X荧光光谱仪对银合金空白工作标样进行实验,从而获得铅元素的检出限。在同等条件下,对各种银合金样品进行铅含量的分析测试以获得检测值。结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,与ICP法验证实验分析判定结果进行比较,证明XRF方法可行。分析讨论可能影响检测的因素。     

饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测

采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合。     

云锦扁金线的金层含金量测定

云锦妆花缎是云锦中的高端产品,其中的扁金线的金层含金量一直没有检测方法。采用王水溶解云锦扁金线,进行ICP-AES法测定主成分金,次成分银、铜,按照金在检测的所有主要金属元素总和的相对占比来计算含金量。方法精密度分别为金13.1%~16.5%;银2.69%~6.54%;铜5.58%~9.92%,加标回收率分别为金96.5%~98.0%、银97.4%~100.0%、铜90.4%~101%。     

X射线荧光光谱法在PET塑封金制品金层厚度测试中的应用

应用Ｘ射线荧光光谱法对ＰＥＴ塑封金制口的金层厚度进行了测试，通过一定的技术和计算机处理，采用合适的数学模型，使不同厚度不同型号的ＰＥＴ塑封金层得到不同的校准曲线，从而求得ＰＥＴ塑封金制品的金层厚度，测试结果与经典称重法结果比较，证明此方法可行。     

饰品中有害元素的限定及无损检测方法的前瞻

该文对即将出台的关于饰品中有害元素限定的国家行业标准进行了介绍，并提出了相关的无损检测方法的前瞻。     

波长色散X射线荧光光谱法对纯银中银含量的测试

应用波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)对纯银(银含量为99.00％～99.90％)中的银含量进行定量分析。利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线,采用Lachance-Trill浓度校正模式消除吸收-增强效应。对样品的测试结果与其它方法结果比较,证明方法可行。银含量99.00％≤C<99.90％时,扩展不确定度U_(90)=0.10％,V_(eff)=50。     

合金产品中镍释放率的检测方法

本文叙述了一个白K金合金的镍释放率检测方法。配制一种人工汗液，将含镍的合金样品浸入一个星期后用火焰原子吸收光谱仪检测溶液中的浸出镍的含量，单位为μg/cm^2/week。使用合理的调整系数，得出该合金样品的镍释放率。通过比对实验，证明该方法现实可行。     

能量色散X射线荧光光谱法在检测仿真饰品中有害元素的应用

用能量色散X射线荧光光谱法快速定性仿真饰品中的铅、镉、铬、砷、汞的研究。检测仿真饰品中铅、镉、铬、砷、汞的含量来判定其是否符合要求。对于定性与定量的测试进行了能量色散X射线荧光光谱法与电感耦合等离子发射光谱法的比较分析,证实了结果可靠。     

利用X射线荧光光谱法对仿真饰品镍释放量快速分析筛选

分别采用X射线荧光光谱仪和光谱仪对仿真饰品镍含量和镍释放量进行检测,寻求仿真饰品金属覆盖层类型、表面镍含量、基体镍含量与饰品镍释放量的关系,进而通过X射线荧光光谱法对金属覆盖层和镍含量进行检测,就可迅速对仿真饰品是否需要进行镍释放量的检测作出快速筛选判定。研究结果表明,表面镍含量≤8%的,可以不进行基体镍含量、镍释放量的检测。表面镍含量8%,需要进行基体镍含量的检测,判断饰品表面是否有金属覆盖层及覆盖层的类型,再对是否需要进行镍释放量的检测作判定。     

铂制品中铂含量的无损方法──能量色散X射线荧光光谱法

本文叙述了采用能量色散X射线荧光光谱法对钳制品中的钥含量作无损检测的方法。我们运用多次熔炼的方法制作工作标样,根据X射线荧光光谱分析方法的基本原理,对样品进行检测及数据比对,并对方法进行了必要的修正,以提高测量方法的精度。本方法可测量多元素铂合金,其测量范围为Pt含量99．9％～85％,测量误差定为0．3％。