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本文采用溶剂热法制备出掺铝的铜铟镓硒Cu(InGaAl)Se2(简称CIGAS)纳米粉末,并直接将此纳米粉末作为蒸镀材料制备铜铟镓铝硒CIGAS薄膜,再将其放置在装有高纯硒粉的自制密封法兰内在真空下进行硒化和退火处理,从而得到符合化学计量比的铜铟镓铝硒CIGAS薄膜。采用X射线衍射(XRD)和拉曼光谱(Raman)以及扫描电镜(STM)观测和能谱(ED)对样品结构和成分进行测量,确认CIGAS薄膜样品是黄铜矿结构和铜铟镓硒成分。采用椭圆偏振光谱测量术对铜铟镓铝硒CIGAS薄膜进行椭偏光谱测量,进而得出薄膜光学参数如折射率n(λ)、消光系数k(λ)、吸收系数以及薄膜光能隙Eg, 并发现Al元素的掺杂明显增加了薄膜光能隙,并进行了相关物理分析。 相似文献
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