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1.
2.
采用直流电化学刻蚀方法制备扫描隧道显微镜钨针尖,研究了电化学刻蚀过程中NaOH溶液浓度、钨丝浸入长度和刻蚀电压对针尖形貌的影响。通过扫描电子显微镜(SEM)测量针尖曲率半径和针尖纵横比值,以表征针尖的尺寸和形状;通过能谱仪(EDS)分析针尖表面成分,以表征表面清洁度;通过场发射显微镜(FEM)得到Fowler-Nordheim (F-N)曲线来检测针尖发射性能。实验结果表明,当溶液浓度为2 mol/L、钨丝浸入长度为4 mm、刻蚀电压为3 V时,可以得到曲率半径约为100 nm、纵横比值为13的针尖,且表面无钨的氧化层。FEM结果显示当对针尖施加500 V的负偏压时,针尖可以稳定发射50 nA量级的电流,且针尖性能具有良好的一致性。 相似文献
3.
概述了集成真空微电子器件的基本理论、特性、工艺制备及发展现状。现在集成真空场发射阵列的发射电流密度可做到1×10~3A/cm~2,单个锥尖跨导为5.0 μS。对于锥尖密度为1×10~7锥尖/cm~2,总跨导可以达到50 S/cm~2。一种新的采用真空微电子技术的微带放大器,在频率ITHz下能输出功率1~50W。指出真空微电子技术将是设计和制备新型亚微米器件的有效方法。 相似文献
4.
This work described the preparation of dysprosium oxide, Dy2O3, nanoparticles using the homogeneous precipitation method. Dy3+ ions were precipitated using NaOH solution. The obtained product was filtered, dried, and then calcined for 1 h at the temperature range of 300–700 °C in static air. The calcination temperature of the Dy-precursor was chosen based on its decomposition as indicated by the TGA analysis. The crystalline structure and surface morphology of the calcined solids were studied by X-ray diffraction(XRD), field emission scanning electron microscopy(FE-SEM), transmission electron microscopy(TEM) and X-ray photoelectron spectroscopy(XPS). The obtained results revealed that Dy2O3 with crystallites size of 11–21 nm was formed at 500 °C. Such value increased to 25–37 nm for the sample calcined at 700 °C. 相似文献
5.
6.
《Planning》2014,(7)
本文利用有限元的方法对碳纳米管的表面电场强度进行了数值模拟,计算了碳纳米管一维阵列在不同间距下的场发射电流。通过计算发现,在碳纳米管一维阵列中当碳纳米管之间的间距小于碳纳米管高度的三倍时,碳纳米管之间的场屏蔽效应随距离的增加而迅速衰减;当间距大于高度的三倍时,场屏蔽效应随距离的增加而非常缓慢的降低。在碳纳米管一维阵列中当碳纳米管之间的间距等于碳纳米管高度的三倍时,碳纳米管阵列的场发射电流密度最大。 相似文献
7.
8.
9.
提出了一种新型的制备碳纳米管场发射阴极的方法———植布法,详细描述了植布法工艺,并用扫描电镜观察植布法得到的样品的表面形态,讨论了球磨工艺、碳管和聚合物分散剂不同质量配比,及聚合物介质刻蚀时间的长短对最终场发射阴极性能的影响。实验表明植布法制备的场发射阴极具有良好的场发射性能,如低的开启电压(约为1.7V/μm),高的电流密度(在3.6V/μm下,电流密度可以达到26mA/cm2)。该方法结合了传统直接生长和丝网印刷法制备碳纳米管阴极的优点,实现了碳纳米管与金属基底可靠结合的结构,广泛适用于以该结构作为核心功能单元的器件。 相似文献
10.