“碳化硅功率半导体技术”专题前言

半导体功率器件(即电力电子器件)是电力电子技术的三大核心基础之一,被比作电力电子装置的“CPU”。现有功率器件多采用Si基或SOI基,但是受限于自身材料特性的影响,在节能与转换效率方面越来越显示出他们的局限性。为解决上述问题,半导体功率器件除了继续对传统器件进行新理论和新结构的创新研究外,也正在遵循“一代材料、一代器件、一代装置、一代应用”的发展趋势,从传统的Si基和SOI基向宽禁带半导体SiC和GaN基进行扩展和延伸。     

广西箭猪坡矿床首次发现的石英脉型锡矿体特征及 锡石微量元素地球化学意义

箭猪坡矿床是丹池成矿带南端的一个以铅锌锑为主的矿床，随着2012-2014年在箭猪坡矿床钻孔中石英脉型锡矿体的首次发现，打开了箭猪坡矿床新的找矿空间。新发现的锡矿体矿石矿物组合类型主要为锡石+闪锌矿+脆硫锑铅矿+黄铁矿+石英及锡石+脆硫锑铅矿+石英+方解石。箭猪坡矿床锡石呈自形-半自形粒状，锡石粒径多在0.1～0.2mm，少数0.02～0.05mm，分布在含硫化物的石英脉裂隙中。物相分析显示箭猪坡矿床锡主要赋存在锡石中，锡石物相占83.33%～100%。阴极发光（CL）图像显示箭猪坡矿床中的锡石经历了两期结晶作用：早期锡石（Ⅰ）和晚期锡石(Ⅱ），早期锡石CL荧光亮度较小，呈暗灰色至黑色；晚期CL荧光亮度较大，呈白色至浅灰色。锡石单矿物SnO2含量91.623%～96.288%，平均94.03%，杂质主要有Fe、W、In等，其中FeO含量0.02%～0.52%，WO3含量多在0.02～1.34%，In2O3含量在0.476%～0.954%，Sn与FeO、In2O3呈负相关，锡石中FeO、WO3、Ta2O5、Nb2O5、MnO含量指示箭猪坡锡形成于中低-中温热液环境，成矿热液来源于高度分异演化的花岗质岩浆。通过与大厂矿田西矿带上部脉状锡矿体的类比分析，具有相似的成矿条件及矿物组合，推测所揭露到的脉状锡矿（化）体相当于西矿带上部脉状锡矿（化）体，而下部的网脉状、似层状锡矿体尚未揭露到，由此预测箭猪坡矿床深部找矿空间及找矿潜力大。     

用宽带超表面产生阵列贝塞尔光束

通过在空间光调制器（SLM）上加载相位图或通过光刻加工微型圆锥状结构可以产生贝塞尔光束阵列。然而，典型空间光调制器具有比波长大一个数量级的像素尺寸，这限制了相位梯度的可用范围，用光刻法加工的微型锥透镜的顶端不是标准的圆锥，这影响了贝塞尔光束的质量。为了克服这些缺点，将复杂的相位图加载到电介质超表面上，设计了一种可以产生阵列贝塞尔光束（在波长700 nm处，NA=0.3）的超表面器件。该器件可以宽波段工作，其单元结构在波长580~800 nm范围内的偏振转换效率均超过57%。利用时域有限差分算法（FDTD）对该器件（厚度为380 nm，直径仅为40 μm）进行了仿真，所产生的阵列光束都垂直于超表面器件。所提出的阵列贝塞尔光束发生器具有纳米级别的厚度和几十微米的直径，这对于未来的集成光学领域具有很大的应用前景。     

蓬莱市大柳行地区金矿热液成矿规律及地质勘查工作浅析

大柳行地区位于胶东半岛北部,区内金矿密布,已探获资源储量并开采的主要矿脉有数十条。金矿脉多被定义为低温浅成热液矿床,已为大量探采工程所验证。近年深部探采工程施工过程中,在主矿脉附近不断发现有闭合构造内成矿的盲矿体,产状类似于于主矿体,呈雁行排列,排列规律与单个矿体南东侧伏规律相同。通过对区内成矿一般规律的总结分析,结合这一现象为今后的地质探矿工作提供新的思路。     

机械行业新标准介绍

根据中华人民共和国工业和信息化部公告2018年第36号,以下机械行业新标准2019年5月1日实施。1)JB/T 13525-2018《热轧用矫直机齿轮箱》为首次制定标准,规定了热轧用矫直机齿轮箱产品的常用型式、基本参数与尺寸、技术要求、试验方法、检验及验收规则、标志、包装、以及产品的运输和贮存。适用于宽厚板轧线热矫直机齿轮传动箱。2)JB/T 13526.1-2018《连轧二辊粗轧机第1部分:性能参数》为首次制定标准,规定了热连轧线二辊粗轧机设备的基本型式和性能参数。用于在热状态下,轧制黑色金属的热连轧二辊粗轧机。     

紫外飞秒激光的脉宽测量方法

相对于近红外波段的飞秒激光脉冲，紫外波段的飞秒脉冲由于具有单光子能量高、聚焦特性好、电离率高和成丝阈值低等优点，在高功率密度光场的产生、等离子体光物理等领域有着越来越广阔的应用前景，成为激光技术的研究热点。随着紫外飞秒激光技术的发展，传统的脉宽测量方法不能满足需求。指出了紫外飞秒激光脉宽测量研究的主要进展，讨论了目前可用于紫外飞秒激光脉宽的测量方法，主要有双光子荧光测量法、互相关法、简并四波混频法、多光子电离法，介绍了相关测量原理与特点。在此基础上，对紫外飞秒激光脉宽测量技术研究前景进行了展望。     

多层介质膜脉宽压缩光栅清洗方法研究

采用SPM (Sulfuric-Peroxide Mixtures, 98wt%H₂SO₄+30wt%H₂O₂)+兆声(方法1)和氧等离子体+HPM (Hydrochloric/Peroxide Mixture, 37wt%HCl+30wt%H₂O₂+DIH₂O)+兆声(方法2)两种清洗方法对多层介质膜脉宽压缩光栅进行清洗, 并对清洗前后样品的表面元素含量、衍射效率、表面粗糙度、表面温升以及激光损伤阈值等参数进行测量以评估两种清洗方法清洗效果。在入射角70°, 脉宽12 ns, s偏振, 波长1064 nm的激光辐照下, 经过清洗方法1清洗后的光栅样品单脉冲激光损伤阈值为7.55 J/cm ², 而方法2清洗后的样品损伤阈值为5.32 J/cm ²。另外, 虽然经过方法2清洗后样品表面杂质含量更低, 但是在衍射效率、表面粗糙度和表面温升都劣于经方法1清洗后的样品, 进一步分析发现方法2中氧等离子体清洗过程引入的Fe元素影响了其样品损伤性能和温升性能。因此, SPM清洗方法可以作为多层介质膜脉宽压缩光栅提升抗激光损伤性能的优化清洗方案。