全文获取类型
收费全文 | 19915篇 |
免费 | 1860篇 |
国内免费 | 1276篇 |
专业分类
电工技术 | 1652篇 |
技术理论 | 2篇 |
综合类 | 1051篇 |
化学工业 | 699篇 |
金属工艺 | 766篇 |
机械仪表 | 1250篇 |
建筑科学 | 477篇 |
矿业工程 | 422篇 |
能源动力 | 645篇 |
轻工业 | 522篇 |
水利工程 | 105篇 |
石油天然气 | 248篇 |
武器工业 | 239篇 |
无线电 | 9388篇 |
一般工业技术 | 1848篇 |
冶金工业 | 302篇 |
原子能技术 | 426篇 |
自动化技术 | 3009篇 |
出版年
2024年 | 83篇 |
2023年 | 347篇 |
2022年 | 334篇 |
2021年 | 469篇 |
2020年 | 424篇 |
2019年 | 565篇 |
2018年 | 305篇 |
2017年 | 521篇 |
2016年 | 600篇 |
2015年 | 721篇 |
2014年 | 1284篇 |
2013年 | 1113篇 |
2012年 | 1407篇 |
2011年 | 1388篇 |
2010年 | 1304篇 |
2009年 | 1394篇 |
2008年 | 1565篇 |
2007年 | 1423篇 |
2006年 | 1166篇 |
2005年 | 1111篇 |
2004年 | 928篇 |
2003年 | 728篇 |
2002年 | 518篇 |
2001年 | 469篇 |
2000年 | 338篇 |
1999年 | 282篇 |
1998年 | 249篇 |
1997年 | 272篇 |
1996年 | 208篇 |
1995年 | 202篇 |
1994年 | 206篇 |
1993年 | 172篇 |
1992年 | 188篇 |
1991年 | 229篇 |
1990年 | 195篇 |
1989年 | 218篇 |
1988年 | 42篇 |
1987年 | 25篇 |
1986年 | 12篇 |
1985年 | 9篇 |
1984年 | 5篇 |
1983年 | 7篇 |
1982年 | 10篇 |
1981年 | 6篇 |
1980年 | 1篇 |
1976年 | 1篇 |
1975年 | 2篇 |
1959年 | 5篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 31 毫秒
1.
2.
为提高非本征光纤珐珀传感器(Extrinsic Fabry-Perot Interferometric, EFPI)腔长解调的精度,基于EFPI传感器反射光谱近似余弦函数的特性,设计了一种基于李萨如图形(Lissajous-Figure)与标准形式椭圆曲线拟合的解调方法。将两组光强信号经过坐标变换拟合为标准椭圆曲线,以减少求解参数;并通过经验模态分解对数据进行分析,去余项后将得到的极值点代入椭圆曲线求解。将离散数据点分别移动5、10、15、20、25个点测试五组不同相移对解调结果的影响并选取其中误差最小的一组对EFPI传感器进行横向负载实验,分别施加5~25 N的应力,通过拟合椭圆曲线的解调方法将计算腔长差与理论腔长差相对比。结果表明,实际腔长差随负载成正比,平均误差值为5.690%左右,可以准确获取 EFPI 的腔长。 相似文献
3.
射频电感耦合等离子体(ICP)在实际放电过程中,线圈的构型、电源参数、气压等外部工质条件的变化均会对结果产生较大影响,依靠实验很难得到多外部条件对ICP参数分布的影响机理和规律,因此需要结合仿真和实验的方法进行分析。该文通过建立感性线圈的电磁学有限元模型,分析不同线圈构型下射频电磁场在等离子体内部的空间分布,研究放电参数(线圈构型、功率大小)对等离子体分布影响和E-H模型下放电形态的跳变过程,并观察进入稳定H模式后电源参数的变化规律,为等离子体源的小型化工程应用提供理论基础。实验和仿真计算结果表明:不同线圈匝数在不同功率条件下,电磁场强度变化对等离子功率吸收和功率耦合有较大影响;当工作气压在0~20Pa时,ICP的电子密度呈轴对称分布,随着放电功率、气压的增大,等离子体吸收的功率和电离度也随之增加,其电子密度相应地增大,放电功率的增加会使得环状的等离子体区域随之扩大,在轴向、径向上的分布呈先逐渐增大而后在靠近腔室壁面区域迅速下降。 相似文献
4.
随着5G时代的到来,天线与射频接口高度集成,传统的传导测试已无法适应新一代无线通信设备的测试要求,越来越多的射频性能指标需要采用空口而非传导方式进行测试.以误差幅度矢量(EVM)为代表,射频性能指标对于传统的空口测试系统及方法提出了不同以往的要求.紧缩场、近远场变换等新系统被用于替代传统的远场测试系统.文章结合3GPP及近年的相关参考文献,介绍了几种5G射频性能测试的空口测试方法并做了比较,着重讨论了EVM的定义、测试流程和校准方法等问题,展望了射频性能测试的未来发展方向. 相似文献
5.
6.
7.
10.