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1.
2.
Chemical mechanical polishing of polymer films 总被引:2,自引:0,他引:2
Strategies to reduce capacitance effects associated with shrinking integrated circuit (IC) design rules include incorporating
low resistivity metals and insulators with low dielectric values, or “low-κ” materials. Using such materials in current IC
fabrication schemes necessitates the development of reliable chemical mechanical polishing (CMP) processes and process consumables
tailored for them. Here we present results of CMP experiments performed on FLARE™ 2.0 using a specialized zirconium oxide
(ZrO2) polishing slurry. FLARE™ 2.0 is a poly(arylene) ether from AlliedSignal, Inc. with a nominal dielectric constant of 2.8.
In addition, we provide insight into possible removal mechanisms during the CMP of organic polymers by examining the performance
of numerous abrasive slurries. Although specific to a limited number of polymers, the authors suggest that the information
presented in this paper is relevant to the CMP performance of many polymer dielectric materials. 相似文献
3.
本文介绍了广播发射台利用计算机技术、网络技术、遥控遥测技术、现代测试手段,对设备进行自动化控制与管理;实现设备技术指标自动测试,发射台无人值班、有人留守,建立机器的计算机档案制度,确保安全优质播出的方法和经验。 相似文献
4.
5.
提出了一种快速自动测试光栅光谱衍射效率的新方法。重点推导了测试平面光栅绝对光谱衍射效率与相对光谱衍射效率公式,介绍了双光束高精度自动测试光栅光谱衍射效率曲线的基本原理、方案与方法,并分析了测试精度。研究表明,本方案的测试速度和精度均比一般测试方法提高一倍,并能有效地消除光源波动对测量结果的影响,测量误差小于5×10-3。 相似文献
6.
Enhanced Image Detection on an ARM based Embedded System 总被引:2,自引:0,他引:2
This paper presents a new technique for thedetection of Integrated Circuits within images of Printed Circuit Boards autonomouslyand without the need to be assisted by CAD data. The technique is a key partof a suite of algorithms targeted for an embedded System On Chip architecturebased on the ARM7 platform for real time detection of PCB images for diagnosticpurposes. The technique has a significant reduction in complexity when comparedto conventional approaches such as the Hough Transform. The reduction in complexitymakes the approach ideal for an embedded vision application suchas the one described in this paper. This paper presents the technique, thetarget embedded architecture and results showing the reduction in complexitywhen compared to a Hough Transform. 相似文献
7.
用透射电子显微镜、扫描电镜对锑化镓材料切、磨、抛等加工工艺引入的表面损伤进行观察和检测。结果表明:切割加工是锑化镓单晶晶片表面损伤层引入的主要工序;锑化镓单晶切割片表面极不平整,有金刚砂所引起的较粗桔皮皱纹;其表面损伤层深度≤30μm;双面研磨的锑化镓晶片表面仍有较粗桔皮皱纹,但比切割片的要细,而且桔皮皱纹的深浅随磨砂(Al2O3)粒径的减小而变细变浅;晶片的表面损伤层深度(≤5μm)也随着磨砂粒径的减小而减小。一般情况下,其损伤层的深度约为磨砂粒径的1/2。机械化学抛光加工的锑化镓晶片表面的SEM像观察不到桔皮皱纹;其损伤层深度约55nm。 相似文献
8.
介绍了计算机光学零件图自动绘制软件系统的功能,给出了用该软件完成的光学零件图图样,对程序设计过程中的难点及处理方法也进行了详细阐述。 相似文献
9.
J Strother Moore 《Formal Aspects of Computing》1994,6(1):60-91
We present a formal model of asynchronous communication between two digital hardware devices. The model takes the form of a function in the Boyer-Moore logic. The function transforms the signal stream generated by one processor into that consumed by an independently clocked processor, given the phases and rates of the two clocks and the communications delay. The model can be used quantitatively to derive concrete performance bounds on communications at ISO protocol level 1 (physical level). We use the model to show that an 18-bit/cell biphase mark protocol reliably sends messages of arbitrary length between two processors provided the ratio of the clock rates is within 5% of unity. 相似文献
10.
Joern Ploennigs Mario Neugebauer Klaus Kabitzsch 《International Journal on Software Tools for Technology Transfer (STTT)》2006,8(6):607-620
Large technical systems need to be designed both reliable and efficient. Specialized design tools offer therefore a simplified,
abstract design and extend details autonomously in the background. Analytic and simulation based models could improve the
quality by testing and dimensioning the design before implementation, but setting up the necessary models is time-consuming
and expensive. Therefore many developers ask for analysis tools which are able to create their models from the available information
in the design tools. This paper presents such an automated modeling approach basing on an existing design database at the
example of a network analysis for building automation fieldbuses. The process of automated modeling is unfolded, and the potentials
and limitations are discussed. 相似文献