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1.
对相调制光谱椭偏仪进行了用户级别的校准,结合椭偏理论简要讨论了校准的原理,测试结果表明椭偏角准确度达到0.01°.探讨了人为造成的准直调节不一致性以及样品膜层的不均匀性对样品测量结果的影响.对热氧化硅样片测量结果进行了统计分析,该工作是进一步研究椭偏仪误差和校准方法以及阿伏加德罗常数项目硅球表面层研究的基础.  相似文献   
2.
密封容器内爆炸实验瞬态温度测试技术   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
瞬态温度测试技术,涉及传感器选取、远传模块设计、信号抗干扰远距离传输、测点布局和防护等诸多技术问题。介绍了瞬态温度测试技术的发展过程,密封容器内爆炸实验瞬态温度测试系统的配置,硬软件设计思路、实现过程和关键技术解决办法,实验的测点布局和防护装置设计,并应用测试系统首次取得了某项实验瞬态温度数据。  相似文献   
3.
根据光谱辐射照度标准灯(卤钨灯)的数据曲线具有精确数学物理模型的特点,提出广义数学函数变换和标准灯数学物理模型相结合的数据分析和处理方法,能够准确发现并修正光谱辐射照度测量中的不可靠数据点.在2004年国际计量局组织的250-2500 nm光谱辐射照度国际关键比对CCPR-Kla,对测量结果中的不可靠数据点进行修正处理后,我国的光谱辐射照度量值与国际参考值之间的一致性优于1.5%.  相似文献   
4.
在满足强度、耐久性和和易性的基础上,从工程造价最小化方面对高强高性能混凝土配合比进行优化,然后确定高性能混凝土配合比优化设计的数学模型,通过Matlab编程求解有约束条件的线性优化问题,优化实例表明,采用的优化思路是可行有效的.  相似文献   
5.
三种糖醇对高粱淀粉糊化特性和凝胶结构的影响   总被引:1,自引:1,他引:1       下载免费PDF全文
本文通过快速黏度分析仪(RVA)、物性测试仪(TPA)、差示扫描热量仪(DSC)、扫描电子显微镜(SEM),研究不同浓度的赤藓糖醇、木糖醇、麦芽糖醇(淀粉与糖醇比例为1:1、1:2、1:5,m/m),对高粱淀粉性质和高粱淀粉凝胶结构的影响。与原高粱淀粉相比,随着三种糖醇添加量的增加,相同温度下高粱淀粉的溶胀度下降,尤其是在75℃、85℃和95℃。RVA结果表明,随着糖醇添加量增加,高粱淀粉的峰值黏度和衰减值下降,然而其糊化温度增加。糖醇使高粱淀粉凝胶的硬度升高,而且随着糖醇添加量增加而增加。DSC结果表明,添加三种糖醇后,高粱淀粉的起始糊化温度,峰值糊化温度,终止糊化温度,焓变均增加,而且随着糖醇添加量增加而升高。从SEM可知,添加糖醇后的高粱淀粉凝胶的微观结构变得更紧密。  相似文献   
6.
2007年8月30日,瑞钢钢板(中国)有限公司落成典礼在其位于昆山市的工厂内举行。昆山市副市长汪国桢先生、瑞典驻上海总领事馆领事Lars Andreasson先生和瑞典钢铁集团总裁兼首席执行官Olof Faxander先生出席了落成典礼并剪彩。此次在昆山落成的工厂主要功能是仓储及加工,占地面积5万m~2,仓储面积3万m~2。待工厂建立完成,将会有更多的耐磨钢板  相似文献   
7.
瓦级激光功率基准器的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
对称型瓦级电校准激光功率计(ECLR)采用了一系列新的设计方案,实现了光电加热区的“对准”功能,减小了由加热区不等效引起的误差,并通过双表面测量结构大辐度降低了由测温区温度分布变化带来的误差。此外,还设计了一种无窗口的热屏蔽结构,以避免由窗口所带来的误差因素。对称型瓦级ECLR在室温下测量瓦级激光功率可达到很高的精度,适用作基(标)准器。  相似文献   
8.
在高精度控制环境温度条件下测量光电型、热偶型和热释电型三种光探测器的激光脉冲能量响应度温度特性.采用对入射激光正交取样的方法以消除测量时激光能量和偏振态变化对测量结果的影响,通过对蛙光电探测器等效电参数和能量测量方法的分析,指出光电探测器响应度随温度变化的原因,并提出减小影响的方法.  相似文献   
9.
基于WDM的USB过滤驱动程序设计与实现   总被引:1,自引:0,他引:1  
USB驱动程序是实现USB设备功能的可靠保证。文章深入分析了WDM驱动程序原理及其分层框架结构特性,介绍了一种USB设备过滤驱动程序的开发方法,并结合开发的USB存储设备读写控制驱动程序给出了关键代码。  相似文献   
10.
在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气基底空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底折射率。对氮化硅薄膜采用Tauc Lorentz色散模型进行了分析拟合,讨论了薄膜与基底界面层、表面粗糙度对光学常数及模型拟合的影响,表明在薄膜与基底间晶格失配的情况下,界面层的引入对改善拟合度是必要的。给出了薄膜体系的光学常数、薄膜结构的分析结果。  相似文献   
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