云闪定位算法及误差分析

为了降低云闪对空间飞行器的危害,同时能够更全面地研究雷暴活动,并为地闪的探测预警提供技术支持,开展云闪定位方法的研究具有重要的价值。本文根据现场云闪探测仪采集到的VHF辐射源入射方向信息和达到探测站的时间差信息,结合无线电测向时差定位技术,研究了VHF云闪的四站定位算法及其误差精度分析。在对该算法和误差精度进行matlab仿真的基础上,得到了不同布站方式和基线距离情况下定位误差分布图,为探测站的布站选址提供了理论支撑。     

混合信号集成电路测试中的约束条件分析

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入.为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求.本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励.     

卫星通信系统“动中通”与“静中通”技术在指挥应急现场工作中的应用

在指挥应急现场工作中,应急通信保障任务非常重要。数据、话音、实时监控信息等信号需要及时、准确地送到指定场所。在一些特定场合就需要利用卫星通信车来传送数据、话音、实时图像监控信息等信号。本文对卫星通信系统“动中通”和“静中通”技术进行研究,并对这两种卫星车的应用特点、应用场合做比较。     

一种超宽带可变符号率FQPSK调制方法

针对传统费赫尔正交移相键控（Feher’s Quadrature Phase Shift Keying,FQPSK）调制算法在硬件实现时,符号速率受系统时钟频率限制,难以实现大容量传输的问题,借鉴直接数字合成（Direct Digital Synthesis,DDS）原理,提出了一种超宽带可变符号率FQPSK调制方法,通过并行查找表实现超宽带FQPSK波形映射,通过频率控制字,实现可变符号率调制,突破了系统时钟频率对符号率的限制。在Vivado环境中的Verilog HDL程序仿真,验证了所提方法的有效性。     

减少SOC测试时间的测试结构配置与规划

以减少系统芯片(SOC)测试时间为目标,研究了基于内嵌芯核分簇的并行测试结构配置与规划问题。以求解多处理器规划问题为模型,分析了并行测试层次型SOC多芯核的规划,重点研究了最小化测试时间目标下多芯核最优分簇问题。以ITC2002SOCBenchmark为实验对象,示例了芯核分簇的规划结果。该方法可用于SOC并行测试流程控制及SOC的可测性设计。     

数字集成电路的混合模式内建自测试方法

为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖，提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器（LFSR）的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间，对上述伪随机测试中未能覆盖的故障，采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法。对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率，特别适合数字集成电路的内建自测试。     

基于CAN总线的一体化氧化沟DCS系统方案

针对一体化氧化沟生物处理系统控制问题,给出一种实用、基于CAN总线的现场控制器与工业PC (IPC)组成污水处理分布控制(DCS)系统实现方案。由于该方案采用的现场控制器具有多主结构、实时能力和高可靠性通信,而集中监控的IPC资源丰富,故整个DCS系统开放性、实时性、可靠性和操作性良好。     

基于神经网络信息融合技术的模拟电路故障诊断

研究了神经网络信息融合技术在模拟电路故障诊断中的应用。利用BP神经网络建立信息融合中心,对多传感器数据进行融合处理,减少模拟电路故障诊断的不确定性。对标准电路的输出电压与电源电流特征信息,及两者融合信息的故障诊断性能比较,表明神经网络信息融合方法用于模拟电路故障诊断是有效和可行的。     

外浮顶油罐雷电感应过电压特征分析

利用人工触发闪电试验对外浮顶油罐模型雷电感应过电压波形特征进行分析。在外浮顶油罐模型接地的情况下,当回击电流峰值范围为-7. 07 k A～-20. 84 kA时,引起的地电位抬升电压峰值在-4 583. 3 V至-12 333. 0 V之间,相应的罐壁与浮盘间的电位差峰值范围为-916. 7 V～-3 250. 0 V;油罐地电位抬升是由雷电电磁场在土壤中的传播和耦合造成的,油罐壁与浮盘间的电位差随着回击电流和地电位抬升电压的增大而增大。外浮顶油罐壁与浮盘间的电位差信号不仅与回击过程有关而且与先导过程有关,是回击过程与先导过程产生的近距离空间电磁场在油罐上共同作用的结果。     

模拟集成电路的测试节点选择

如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.