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1.
基于近似模型的拉延筋几何参数反求   总被引:15,自引:1,他引:14  
引入响应面方法和遗传算法建立基于近似模型的拉延筋几何参数反求方法。首先以等效拉延阻力为设计变量,通过均匀拉丁方试验设计方法提取适当的设计参数样本构造响应面近似模型,并不断优化响应面模型,获取最优等效拉延阻力;然后以最优等效拉延阻力为约束条件,结合等效拉延阻力计算和小种群遗传算法反求拉延筋几何参数。整个反求过程采用等效拉延筋有限元模型进行仿真计算,避免有限元模型的网格重划分及由真实拉延筋模型引入的计算效率问题。数值算例表明,基于近似模型的拉延筋几何参数反求方法可在设计兴趣域内快速寻优,有助于加快模具设计进程,降低生产成本。  相似文献
2.
PCS颗粒测量技术中软件相关方法的研究   总被引:13,自引:2,他引:11  
数字相关是PCS颗粒测量技术中的一个关键环节,自相关函数的估计质量直接影响颗粒测量的结果。自相关函数的估计可以通过硬件或软件方法得到。在软件数字相关方法中,利用相关计算时可以得到全部的采样数据这一与硬件相关所不同的特点,能去除采样数据中的均值,并在分析偏差的基础上,采用无偏估计,可有效地提高信噪比,从而获得更好的相关估计值。  相似文献
3.
消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究   总被引:10,自引:1,他引:9  
根据Mie光散射理论,本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法(Lightextinction)测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明,采用合适的最优化计算方法,光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。  相似文献
4.
基于6σ的稳健优化设计在薄板冲压成形中的应用   总被引:7,自引:5,他引:2  
薄板冲压成形过程中,其设计变量和噪声因素都具有一定的波动,都存在不确定性.传统的优化设计由于忽略不确定因素的影响,当设计变量产生波动时,往往会导致设计最优目标超出约束界限或者目标函数对设计变量的波动极为敏感,从而使设计失效.采用自主开发的STLMesher软件建立了模具的参数化模型,在此基础上将试验设计、能代表实际冲压过程精度较高的近似模型和蒙特卡罗模拟技术相结合,构造了基于产品质量工程的6σ稳健优化设计方法.该方法在设计初始阶段就考虑了各种不确定因素的影响,因此在获得近似最优解的同时能够提高设计变量的可靠性和目标函数的稳健性,大幅提高产品的质量.在优化过程中调用的是近似模型,能大大减少调用有限元模型的次数,提高优化效率.算例表明,该方法具有较高的精度和较强的工程实用性.  相似文献
5.
基于MATLAB的光散射物理量的数值计算方法   总被引:7,自引:0,他引:7  
姬丰  郑刚 《光学仪器》2003,25(1):29-32
在经典的 Mie氏理论基础上 ,给出了两相介质中微小颗粒对入射光进行散射的有关物理量 ,如强度函数、消光系数、散射系数等的 MATLAB数值计算方法。最后给出了在计算机上算得的部分计算结果作为示例。  相似文献
6.
用光子相关光谱法测量多分散颗粒系的颗粒粒度分布   总被引:7,自引:0,他引:7  
光子相关光谱 ( Photon Correlation Spectroscopy,简称 PCS)技术是测量亚微米及纳米颗粒粒度的有效方法 ,其测量原理始基于颗粒的布朗运动。设计完成了 PCS颗粒粒度测量装置 ,并进行多分散颗粒系的粒度分布测量 ,测量结果与样品标称值相吻合  相似文献
7.
LabVIEW中非配套图像采集卡的驱动   总被引:7,自引:0,他引:7  
方政  郑刚 《光学仪器》2002,24(1):23-26
将实验室虚拟工程平台 Lab VIEW用于微小颗粒的显微图像处理 ,能取得很好的效果 ,简要介绍了 Lab VIEW的工作原理 ,在此基础上 ,提出了一种在 L ab VIEW中驱动非配套图像采集卡的方法  相似文献
8.
基于动态光散射信号分形的颗粒测量技术研究   总被引:5,自引:0,他引:5  
申晋  郑刚  柏雪源  庄松林 《仪器仪表学报》2004,25(4):421-423,434
颗粒的动态光散射信号具有分形特征,通过对其特征值的分析,可以得到颗粒粒径信息。采用100nm、200nm、500nm和1000nm4种亚微米粒径范围的标准聚苯乙烯乳胶颗粒样品,分别求取了它们的动态光散射信号的分形维数。实验结果表明,颗粒粒径越小,对应的动态散射光分形维数越大;粒径越大,分形维数越小。从而证明了用分形维数表征颗粒粒径的可行性。与相关方法相比,分形方法具有所需的采样数据少、计算简便、适于实时测量等特点。  相似文献
9.
PCS亚微米及纳米颗粒粒度测量仪的研制   总被引:5,自引:1,他引:4  
介绍一种利用光子相关光谱技术进行亚微米及纳米颗粒粒度测量的PCS粒度仪的工作原理和设计。  相似文献
10.
三波长消光法测定微粒的粒径及其分布   总被引:4,自引:0,他引:4  
用洮肖法(Light extineciton)可以测量颗粒的平均粒径,而用多波长消光法,不仅可以测量颗粒的平均粒径,而且也可以测量颗粒的粒径分布。本文提出,当采用函数限制解法时,仅用3个波长即可求出颗粒的粒径及其粒径分布计算机数值模拟计算处实测结果证实了这种方法的有效性。  相似文献
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