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1.
双光子受激发射损耗复合显微成像技术研究
魏通达
张运海
昌剑
季林
杨皓旻
缪佳
《光学仪器》
2020,42(4):67-74
鉴于双光子受激发射损耗(STED)复合显微镜在神经疾病临床诊断及脑科学研究中的重要作用,对双光子STED复合显微成像中多波长选通、多光束合束、关键技术指标等进行了研究,完成了复合显微镜样机系统集成研制和复合成像。该复合显微镜可以对荧光标记的样本进行扫描成像,具备红绿双色荧光扫描成像功能、双光子绿色荧光成像功能和STED超分辨绿色荧光成像功能。测试结果表明,该复合显微镜成像深度达到700 μm,分辨率优于60 nm。
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