CIMS环境下技改项目集成管理信息系统的设计与实现*

以成都某公司CIMS应用工程为背景,介绍了一个CIMS环境下技术改造项目集成管理信息系统的设计与实现。分析了技术改造项目各阶段的信息需求,设计了典型功能模型,既考虑了用户的需求,又兼顾了系统的通用性,实现了专用性与通用性的统一。     

基于远程线程插入DLL技术的嵌套式木马设计

设计了一种嵌套式木马,并采用远程线程插入DLL技术,该木马可以无进程运行。它能够将功能强大的木马上传到目标主机中,并保护其安全地隐藏和运行,在对敌网络作战中可以达到长期有效地控制目标主机的目的。     

真空退火对Invar36合金K-TIG焊接接头组织和性能的影响

采用K-TIG工艺焊接了10 mm厚的Invar36合金板,随后分别进行了600℃保温2 h炉冷、850℃保温1.5 h炉冷和1000℃保温1 h炉冷的真空退火.采用光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、残余应力测钻仪、万能拉伸试验机及显微维氏硬度计等检测了经过和未经过真空退火的焊接接头的显微组织、力学性能、硬...     

基于正交试验设计的铝/钢激光深熔点焊参数优化

通过激光匙孔点焊技术实现铝与钢的焊接. 通过正交试验方法对铝/钢进行激光匙孔点焊试验,研究时间、功率和离焦量对接头力学性能的影响程度. 结果表明,激光功率对铝/钢激光匙孔点焊接头的力学性能影响最大,离焦量次之,焊接时间影响最少,最优参数为激光功率2.85 kW、离焦量22 mm、持续时间3 s,拉伸载荷达到1470 N. 焊缝处生成锥形熔化区,界面处无裂纹,生成包含Fe₃Al、FeAl和FeAl₂等金属间化合物(IMCs),最大显微硬度(HV)达到810.     

脉冲激光焊铝/钢异种接头组织和性能（英文）

采用脉冲激光对纯铝和不锈钢进行搭接焊。研究结果表明,接头力学性能与焊缝深度有着密切的联系。为此,对两个不同焊缝深度的接头进行了研究。当焊缝深度为354μm时,铝和熔化区的界面产生了富铝的铁铝金属间化合物和微裂纹,接头强度为(27.2±1.7)N/mm,在铝和熔化区界面处发现了3种不同的断裂模式。当焊缝深度为108μm时,铝和熔化区的界面仅产生了富铁的铁铝金属间化合物,未观察到任何缺陷。当接头强度为(46.2±1.9)N/mm时,在铝和熔化区界面处仅发现了一种断裂模式。     

一种基于分数傅立叶域图象盲水印方案

利用分数傅立叶变换级次的任意性,提出了一种基于分数傅立叶域图象水印方案。对载体图像进行p级的二维离散分数傅立叶变换,将原始水印图像用LSB算法,嵌入到载体图像的p级分数域的低频系数矩阵中,再进行逆变换得到水印图像。提高了水印安全性,缓解了水印的不可见性与鲁棒性之间的矛盾。仿真试验结果表明该水印具有良好的不可见性和抗噪声攻击性。     

基于DSP的软开关逆变弧焊电源的设计

给出了软开关逆变弧焊电源的主电路和数字化控制电路的设计方法.对比了逆变弧焊电源两种常用的软开关技术,在综合分析两种技术优缺点的基础上选择了ZVZCS,并就ZVZCS工作原理进行了阐述,给出了其主电路参数的设计方法.控制电路采用基于DSP的数字化控制系统,详细给出了移相PWM的实现原理和控制系统的软件流程图.根据以上原理试制了一台逆变弧焊电源,实验结果证明了设计原理的有效性和可行性.     

红外光纤双波段法对桥丝温度的测量

针对桥丝辐射温度检测中存在被测目标体积小,红外辐射量小,远距离传输损耗大等难点技术问题,设计了一种双波长光纤温度测量系统.根据电火工品热辐射的原理,得出双波长测温教学模型,采取有效的光学光纤耦合和提高系统信噪比的措施,采用InSb(响应波长范围为0.8 ～3 μm)和HgCdTe(响应波长范围为3～5 μm)双波段探测...     

垦东12井区成藏规律研究

通过研究垦东12块构造特征,总结油层发育受构造和岩性双重因素控制,形成构造岩性油藏。研究表明该区的储层主要为曲流河沉积砂体,油源来源于周边四个生油洼陷,是通过不整合面、储集层以及断层运移到上覆地层后成藏的。揭示其独特的成藏特点,明确适应该区油藏勘探的技术系列,带动主体油田的扩边勘探。     

CrN/ZrN纳米多层膜的合成及其结构和性能的研究

利用非平衡直流磁控双靶溅射在不同的基底转速(4～11r/min)和不同反应气体流量下制备一系列的具有纳米周期的CrN/ZrN多层膜.利用X射线衍射,俄歇电子能谱,X射线光电子能谱表征了薄膜的成分和结构,利用纳米力学测试系统以及摩擦磨损仪测量了薄膜的机械性能和摩擦磨损性能,分析了基底的转速、反应气体的种类及流量对薄膜结构与机械性能和摩擦磨损性能的影响.结果表明在氮中混入适量氨气条件下合成的具有小纳米周期的多层膜,其硬度可达32 GPa,磨损率可低到0.3865×10-5mm3/Nm,明显优于单质薄膜.低角度XRD分析证明了薄膜的多层结构.