基于完全局部二值模式的多光谱法识别损伤苹果

目的 建立一种基于完全局部二值模式的多光谱法识别损伤苹果。方法实验搭建苹果的多光谱数据采集平台，采集了558组苹果多光谱数据。使用完全局部二值模式算法提取苹果的特征向量，再将特征向量送入支持向量机中，比较分类结果。结果通过准确率、特异度和召回率三种平均指标，在完全局部二值模式结合支持向量机分类模型下，苹果多光谱图像的25 个波段对表皮有损苹果和表皮无损苹果有很好的识别效果。并在第20 波段的识别准确率达到最高为99.63%。多光谱25个波段的平均分类准确率达到了99.110%，第20波段分类准确率最高，达到了99.632%，准确率越高，分类效果越好。结论所建立的方法可以实现有损苹果和无损苹果的高效识别，对苹果的储运和分选都有一定的意义。