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电子系统由于其功能结构复杂,且工作在多载荷耦合的复杂环境条件下,导致其失效模式较多。因此,电子系统的失效更多的是多个失效模式共同作用的结果。而目前关于电子系统多模式耦合条件下的可靠性建模方法较少。针对电子系统多模式耦合条件下的可靠性建模方法进行研究。首先,通过基于失效物理的可靠性仿真分析方法获取各个单一失效模式的寿命分布信息,进而利用Copula函数对多模式耦合下的系统建立可靠性模型,给出了可靠度计算方法。最后,以某型综合电子系统进行案例研究,说明提出的方法能够获取更为准确的系统可靠度计算结果,避免了过于保守的可靠性评估。 相似文献
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采用固相烧结法制备了五元系PNN-PSN-PMN-PZT压电陶瓷,通过X线衍射(XRD)研究了组分不同Zr/Ti比的相结构,并研究不同Zr/Ti比和Sr掺杂量对组分介电、压电性能的影响。研究表明,组分的相结构均为单一的钙钛矿结构;随着Zr/Ti比的增加,组分的相结构由三方相向四方相转变,且组分的准同型相界位于r(Zr)/r(Ti)=0.98附近;在r(Zr)/r(Ti)=0.98的组分中掺杂Sr发现,随着Sr含量的逐渐增加,压电陶瓷的介电和压电性能先增加后减小,当x(Sr)=4.0%时,介电和压电性能出现极大值,即介电常数ε~T_(33)/ε_0=3 578,压电常数d_(33)=652pC/N,机电耦合系数k_p=0.81,品质因数Q_m=65,介电损耗tanδ=1.72%,居里温度T_C=191℃,且具有典型的介电弛豫特性。 相似文献
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