太赫兹功率非相干测试技术研究进展

本文针对太赫兹辐射功率的测试需求,阐述了基于光子学的太赫兹辐射功率测试技术,详述了太赫兹功率测试 的应用价值。通过研究太赫兹功率非相干测试技术的国内外发展现状,分析了基于辐射热测量的测试技术、基于热膨胀 的测试技术、基于热释电效应的测试技术和基于seebeck 效应的测试技术在太赫兹功率测试中的应用,并进行了优缺点对 比分析。研究结果可以促进太赫兹功率测试的基础研究、开发研究和产业化的发展,最后展望了太赫兹功率非相干测试 技术的发展前景。     

太赫兹计量技术研究进展

随着太赫兹（THz）科学技术的不断发展和应用水平的不断提高,科研、生产及应用领域都产生了对THz 计 量技术的迫切需求。论文梳理了美国国家标准与技术研究院、英国国家物理实验室、中国计量院等国内外主要计量机 构及其它科研机构在THz 参数计量技术方面的研究工作,从功率、频率、光谱参数以及脉冲参数等方面对THz 计量技 术的研究现状进行了综述,并对中国电子科技集团公司第四十一研究所在THz 计量领域的研究工作进行了介绍。最后, 对太赫兹计量技术的发展进行了展望。     

基于LXI总线PCI接口的软件设计

LXI总线具有高速、灵活等特点,已经广泛应用在仪器仪表中,如何将PXI总线设备快速升级成LXI总线设备成为急需解决的问题。本文介绍了3种通过网络控制PCI接口设备的方法:基于SCPI的网络通信和命令解析、基于寄存器的网络通信和命令解析以及通过远程过程调用（RPC）实现。通过分析比较可知,采用RPC方法时驱动程序和软面板代码基本不需要做任何业务方面的改变,可直接使用,能够最快速度更新软件,继承性最好,并将此方法应用到LXI多通道数字并行测试模块项目中,课题顺利通过验收,取得了很好的效果。