基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题.根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境,设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本,验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化.测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构,提升了测试数据的可分析性.     

TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备（ATE）BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI（Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。     

一种MCU的测试解决方案

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点.文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案.使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本.     

一种HDMI测试系统的设计与实现

高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试.为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、通信与监测.将模块嵌入到具备VXI总线的集成电路测试系统中,可实现较完整的功能和直流参数测试.测试实验提示,本方法稳定可靠,测试效率高.     

基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术

液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网 EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。     

圆片测试中的熔丝修调方法研究

丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差的计算方法,最后,改进了传统测试流程,提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明,该方法操作性强,能够有效提高测试效率和准确率。     

实时测试波形采显技术的研究

介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序.     

基于测试系统的测试向量工具设计研究

测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法。经过分析,利用ReportX组件完成了测试向量工具的开发,并将其嵌入到国产测试系统BC3192。最后在实际环境中进行了测试,并验证了测试向量工具的良好性能。通过对ActiveX Control技术的应用,可以使虚拟仪器开发变得更为完善和强大。