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1.
为了减少测试数据和测试时间,该文提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法.采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率.若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个扫描切片,并且可以并行载入多扫描链;若不相容,参考切片被该扫描切片替换.提出一种最长相容策略,用来处理扫描切片与参考切片同时满足多种相容关系时的选取问题.根据 Huffman 编码原理确定不同相容情况的编码码字,可以进一步提高测试数据的压缩率.实验结果表明所提方法的平均测试数据压缩率达到了69.13%. 相似文献
2.
为提高集成电路测试效率,提出一种结合三态信号的改进游程编码压缩方法。先对原始测试集进行部分输入精简处理并填充测试集的无关位,再对经过预处理的测试集根据游程长度进行变长分段处理找出最优段长。按照游程长度的出现频率对最优段长下的参考位设置编码表进行编码压缩,使用三态信号编码标志位并将编码压缩后的测试集存入自动测试设备(ATE),最终通过设计解压电路对ATE中存储的压缩数据进行无损解压。实验结果表明,在硬件开销未明显增加的情况下,该方法的测试数据平均压缩率达到74.39%,优于同类压缩方法。 相似文献
3.
4.
5.
大规模高密度集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题.提出了一种先通过编码优化测试集,再使用线性反馈移位寄存器(linear feedback shift register,LFSR)重播种的内建自测试方案.该方案通过自动测试模式生成工具得到被测电路的确定测试集,再压缩为种子集存储在片上ROM中.压缩测试集的过程中,首先以降低测试功耗为目标,用少量确定位编码测试集中的部分测试立方,来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以提高压缩率同时降低LFSR级数为目标,将测试立方编码为确定位含量更少的分段相容码(CBC),最后将以CBC编码的测试立方集压缩为LFSR种子集.实验证明所提出的方案在不影响故障覆盖率的前提下大量降低了测试功耗,并且具有更高的测试数据压缩率. 相似文献
6.
于振洋 《长春光学精密机械学院学报》2012,(2):173-175,168
本文针对现在流行的进化算法生成测试数据存在参数设置难、算法复杂度高、易陷入局部最优解等缺点,提出了一种应用于软件测试中的基于量子粒子群算法(QPSO)的测试数据自动生成算法。该算法是在粒子群(PSO)算法基础上引入量子理论的思想。解决了PSO算法搜索空间有限,容易陷入局部最优解的问题。通过具体实验证明,该方法是有效可行的,其效率也明显高于GA算法和PSO算法。 相似文献
7.
8.
综合考虑影响适应度函数设计的因素,提出一种基于层次分析法的适应度函数设计方法。该方法首先将影响路径之间相似度的因素归结为三要素,并建立层次分析模型。根据不同因素对路径间相似度的作用重要程度不同,建立因素之间两两比较的判断矩阵,确定每个因素的权重系数,进而构造适应度函数。最后,将该方法用于基于遗传算法的多路径覆盖的测试数据生成。实验结果表明,对于解决多路径覆盖的测试数据生成问题,与已有方法相比,该方法具有较好的优越性。 相似文献
9.
文章提出一种基于FDR码改进分组的SoC测试数据压缩方法.经过对原始测试集无关位的简单预处理,提高确定位0在游程中的出现频率.在FDR码的基础上,改进其分组方式,通过理论证明其压缩率略高于FDR编码,尤其是短游程的压缩率.用C语言编写程序模拟两种编码方法的软件实现程序,实验结果证明了改进分组的FDR编码方法的有效性和高压缩性. 相似文献