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1.
对14MnMoV钢中粒状贝氏体的形态和回火沉淀硬化效应进行了研究。结果表明,随淬火温度升高,粒状贝氏体小岛变细,数量增多,方向性明显,且小岛在室温下为富碳的奥氏体;粒状贝氏体的回火稳定性高于板条马氏体,粒状贝氏体的沉淀硬化效应也高于板条马氏体,且620℃回火时,产生的硬化效应最高,可达10 HRC。  相似文献   
2.
矿用蝴蝶环结构复杂,用传统的经验设计难以得到精确的零件尺寸,通过Creo的零件建模、尺寸关系设定以及有限元分析,可得到精确的设计尺寸,从而缩短设计周期,提高设计精度,节省材料,降低成本.  相似文献   
3.
针对竞争失效产品综合应力加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出一种基于仿真的竞争失效产品综合应力加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐进方差估计最小为目标,在各应力组合下试验截尾数大小给定的条件下,以试验应力水平大小作为设计变量,利用MLE理论进行统计分析,建立基于仿真的竞争失效产品综合应力加速寿命试验优化设计模型。通过实例分析表明该方法有效、可行,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。  相似文献   
4.
针对支持向量数据描述(SVDD)训练过程中的参数优化问题,提出了一种有限穷举—局部遗传算法.首先,在分别分析参数C和σ对SVDD分类性能不同影响的基础上,得到参数σ是影响分类性能主因的结论.然后针对σ的优化问题,通过穷举有限个整数解并比较其分类性能来确定近似最优解,在近似最优解的领域内用遗传算法进行局部搜索,最终得到精确的优化参数.仿真实验及电路故障检测应用结果表明:算法有效避免了参数搜索的盲目性,能以更短的时耗逼近最优解.  相似文献   
5.
通用雷达故障诊断专家系统的设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
目的:为了提高雷达装备故障诊断的效率和可靠性。方法:通过对雷达装备综合测试和故障诊断要求和方法的分析。介绍一种适用于雷达装备的故障智能诊断专家模型,探讨了该模型的基本结构和相应的推理机制及故障诊断策略。结果:结论雷达故障诊断的特点,研究了该模型及诊断方法在雷达装备中的具体应用,证实了该方法是有效的。结论:将自动测试技术和专家系统相结合,可以提高故障诊断的效率和可靠性。  相似文献   
6.
阐述了硬件演化的基本原理, 对基于硬件演化的故障自修复国内外现状作了详细的介绍, 对故障自修复中重要的步骤作了说明, 并指出了目前存在的问题和改进的方向。基于硬件演化的故障自修复必将具有广阔的前景和重大的工程应用价值。  相似文献   
7.
针对目前Volterra频域核辨识方法复杂、精度不高等问题,提出一种基于神经网络的Volterra频域核辨识方法。首先选择多组频率基准确测量各阶Volterra频域核的幅值,利用BP神经网络可以任意逼近非线性函数的特点,针对不同阶Volterra频域核设计不同的神经网络模型,进行分阶辨识,最后通过一个非线性电路进行仿真验证。仿真结果表明,该方法可直接辨识频率范围内任意频率对应的Volterra频域核,过程简单、准确度高,易于工程实现。  相似文献   
8.
虚拟阵列Khatri-Rao积与子空间联合稀疏表示的DOA估计方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用目标信号在空域分布的稀疏性,该文提出了一种基于虚拟阵列Khatri-Rao(KR)积与信号子空间联合稀疏表示的单快拍DOA估计方法;该方法利用单次快拍的采样数据,构造出双向虚拟阵列数据,并对虚拟阵列数据的协方差矩阵进行KR积变换处理,然后对向量化后的数据进行顺序重构,利用重构矩阵的大奇异值对应的左奇异向量为估计信号子空间;最后,利用凸优化工具箱对稀疏模型进行二阶凸规划的优化求解,得到高精度的DOA估计值;仿真实验验证了算法的有效性,在低信噪比下比传统MUSIC和OMP算法具有更高的估计精度。  相似文献   
9.
王涛  蔡金燕  孟亚峰  朱赛 《兵工学报》2018,39(7):1339-1351
为从数学角度分析和研究胚胎电子系统,提出了一种典型胚胎电子系统的数学描述方法。分析胚胎电子系统的结构特点和工作原理,建立电子系统的功能函数和工作状态函数。基于自修复能力和硬件消耗两个指标,建立电子系统的性能函数。利用建立的功能函数、工作状态函数和性能函数实现电子系统的数学描述,进而研究胚胎电子系统的功能判断、可靠性分析、性能评估、结构设计优化、自修复方式选择和预防性维修决策等。结果表明,胚胎电子系统的数学描述方法能够准确地对系统功能、性能和工作状态进行描述,从数学角度对胚胎电子系统开展理论研究。  相似文献   
10.
王涛  蔡金燕  张民国  孟亚峰  朱赛 《兵工学报》2018,39(6):1132-1143
在规模一定的总线胚胎电子系统中,电子细胞数目将直接影响电子系统的硬件消耗与可靠性。针对电子细胞数目选择缺乏定量分析方法的现状,提出了一种基于整数非线性规划的电子系统内电子细胞数目优选方法。基于n/k系统可靠性理论,建立了电子系统的可靠性分析模型。以系统消耗的MOS场效应管数目为衡量指标,建立了电子系统的硬件消耗分析模型。通过分析系统可靠性和硬件消耗,将电子系统内电子细胞数目优选问题转化为求解整数非线性规划问题,并基于遗传算法实现了胚胎电子系统细胞数目的优选。仿真实验及分析结果表明,该方法能够较好地解决系统中电子细胞数目优选问题。  相似文献   
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