厚膜电阻器的噪声及其测量技术

本文论述了厚膜电阻器中噪声的特点、种类和产生机理，重点介绍了厚膜电阻器噪声测量系统和技术以及分析方法。在以上讨论的基础上，分析了厚膜电阻器中的噪声与结构的关系以及低噪声化技术。     

交织和BCH编码对蓝牙2.0数据传输性能的改善

蓝牙2.0+EDR规范新增DH分组没有有效的纠错机制,其抗干扰能力差。通过在新规范中加入BCH编码和交织编码,以改善蓝牙的数据传输吞吐量及抗干扰能力。对于新增的数据分组,根据蓝牙标准协议,推导了相应的分组特性;建立了GE信道下数据传输速率与信道突发错误水平的关系模型;获得了在不同信道突发错误水平下的数据传输吞吐量。结果表明,在蓝牙2.0+EDR新规范中加入BCH编码和交织编码,在较高突发错误水平的信道中,其数据传输吞吐量提高了一倍以上,明显改善了数据传输的抗干扰能力。     

多径衰落信道环境中基于空时码构建的ST-OFDM系统

基于空时码发射分集技术,提出了一种ST-OFDM系统.对该系统的结构进行了简要的论述,并就空时码发射分集技术对系统性能的改善进行了分析.在此基础上,通过仿真证明了该系统的性能相对于传统的IEEE802.11a WLAN系统有了明显的提升,且新系统相对于传统系统在接收端不需要额外的付出,因此非常适合基于AP的移动无线网络环境.     

嵌入式USB蓝牙设备驱动程序的实现

本文首先介绍了基于OMAP1510芯片搭建嵌入式Linux系统的方法和OMAP1510的USB结构.然后分析了蓝牙协议栈的体系及其协议栈中软硬件接口的HCI层.最后,给出Linux下实现USB蓝牙设备驱动程序的重要结构体和函数.并详细地测试和验证了所开发的USB蓝牙设备的驱动程序能支持多个USB蓝牙设备.并在这些蓝牙设备之间能同时建立多条蓝牙通信链路的结论.     

蚁群算法用于VLSI布线的特性分析

本文重点在于研究在VLSI布线中采用蚁群算法的实用性和优越性。通过用MATLAB编程对蚁群算法和迷宫算法等算法的实现,得出蚁群算法在VLSI布线中的适用性不受布线结构的限制,而且在得出最优解方面有一定的优势。     

D/A转换器建立时间对输出信号质量的影响

考虑D／A转换器建立时间的影响，建立了D／A转换器输出信号波形的新的时域模型。在此基础上，以正弦信号的发生为例进行了频谱分析。发现了建立过程的平滑作用可以明显地削弱信号的谐波分量，并存在一个最佳转换频率，使谐波失真达到最小值。该结果为D/A信号发生器的优化设计提供了参考依据。     

具有高线性调谐特性的1.2 GHz CMOS频率综合器

基于0.18 μm RF CMOS工艺实现了一个1.2 GHz高线性低噪声正交输出频率综合器,该综合器集成了一种高线性低调谐灵敏度的低噪声LC压控振荡器;降低了系统对锁相环中其他模块的要求;基于源极耦合逻辑实现了具有低开关噪声特性的正交输出高速二分频,采用"与非"触发器结构实现了高速双模预分频,并集成了数控鉴频鉴相器和全差分电荷泵,获得了良好的频率综合器环路性能。对于1.21 GHz的本振信号,在100 kHz和1 MHz频偏处的相位噪声分别为-99.1 dBc/Hz和-123.48 dBc/Hz。该频率综合器具有从1.13~1.33 GHz的输出频率范围。工作电压1.8 V时,芯片整体功耗20.4 mW,芯片面积(1.5×1.25) mm2。     

遗传算法抑制BOC(1,1)信号多径研究

针对传统方法无法有效抑制伽利略(Galileo) BOC (1,1)信号短时延多径的现状,将多径抑制问题转换为最优拟合问题,提出了一种有效估计短时延多径的方法。利用遗传算法不需要函数可导,且不易陷入局部最小值的特点,将其应用于最优拟合BOC (1,1)短时延多径信号的计算上,有效地减小了每个通道的伪距测量误差,提高接收机定位精度。给出应用该算法的具体步骤,仿真结果表明该方法可以更加有效地抑制短时延多径。     

GaAlAs红外发光二极管功率老化对其1/f噪声特性的影响

在可靠性筛选中检测具有潜在损伤的器件一直是个难题.对GaA lAs红外发光二极管(IRLED)功率老化前后低频噪声的测量发现,1/f噪声幅值与偏置电流的γ次方成正比(小电流区γ=1,在大电流区γ≈2),且老化后1/f噪声幅值比老化前增大2个数量级.基于载流子数涨落和迁移率涨落机制建立了一个GaA lAs IR LED的1/f噪声模型,分析结果表明GaA lAs IR LED的1/f噪声在小电流时反映体陷阱特征,大电流时反映激活区陷阱特征,1/f噪声的增加归因于功率老化诱生的界面陷阱和表面陷阱,1/f噪声可以用来检测GaA lAs IR LED s的潜在缺陷.     

深亚微米CMOS集成电路抗热载流子效应设计

热载流子效应(HCE)、电介质击穿、静电放电，以及电迁移等失效机理，已经对VLSI电路的长期可靠性造成了极大的威胁。其中，热载流子效应是最主要的失效机理之一。影响CMOS电路热载流子效应的因素有：晶体管的几何尺寸、开关频率、负载电容、输入速率以及晶体管在电路中的位置。通过对这些因素的研完，提出了CMOS电路热载流子可靠性设计的通用准则。