真空沉积PbTe薄膜的结构检测

真空度为3×10~(-5)Torr,PbTe源温度为850℃,在Si(111)晶片衬底上沉积PbTe薄膜。膜的光学厚度大约是20μm。我们对薄膜进行了X射线衍射分析,寻找不同生长条件下膜的晶态规律,并与其光学特性相对照。用X射线衍射仪,Cuk_α辐射,从20～95℃记录了薄膜的衍射谱。根据谱图分析,薄膜的结构可分为三类:1.高度取向[010]有织构的近单晶结构;2.杂乱取向的多晶结构;3.择     

Cd_(1-x)Zn_xTe和Cd_(1-y)Hg_yTe系的品格匹配

由于ZnTe具有比CdTe位错密度低,缺陷浓度低,机械强度高等优点,尤其是通过调节zn的含量,可使Cd_(1-x)Zn_xTe晶格常数与各种组份的Cd_(1-y)Hg_yTe的晶格常数相匹配。因此普遍认为Cd_(1-x)Zn_xTe是代替CdTe作为Cd_(1-y)Hg_yTe晶体液相外延衬底的一种较希有     

Cd_(1-x)Zn_xTe和Cd_(1-y)Hg_yTe系的晶格常数的测定

本文给出含Zn量0.00≤x≤0.10的Cd_(1-x)Zn_xTe晶体晶格常数对组分x的变化曲线,并与三元系 Cd_(1-y)Hg_yTe晶体晶格常数进行比较.分别计算了 Cd_(0.094)Zn_(0.036)Te-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te和CdTe-Cd_(0.2)Hg_(0.3)Te双晶系的晶格失配度,讨论了其晶格匹配.