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用红外光吸收法测定Hg_(1-x)Cd_xTe组分 总被引：1，自引：1，他引：0
在室温下测量了组分x=0.170～0.443的Hg_(1-x)Cd_xTe薄样品的本征吸收光谱,并采用参考文献[4][5]中的方法确定其禁带宽度,发现与禁带宽度相当的能量处的吸收系数为α(E_g,300K)=500 5600x。把该式作为用红外光吸收法测定Hg_(1-x)Cd_xTe组分的工作曲线,先测出未知组分的Hg_(1-x)Cd_xTe厚样品的吸收边,并延长到α(E_g,300K)处,得到E_g(300K)后,即可求得待测组分: 相似文献
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本文详细描述了经改装的IR-27C红外分光光度计的结构和主要部件。改装后的仪器用于测量红外辐射材料的比辐射率。用该仪器对发黑不锈钢和熔石英的比辐射率进行了测量和分析。对引起误差的诸因素进行了讨论。 相似文献
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材料法向光谱发射率测量方法研究 总被引：1，自引：0，他引：1
本文报道利用红外分光光度计和微机系统,采用二次测量技术,测量材料表面法向光谱发射率的基本原理和测试方法。推导出光谱发射率的计算公式,对引起测量误差的诸因素进行讨论,并实测了几种材料法向光谱发射率曲线。 相似文献
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本文用测量本征吸收光谱的方法,确定Hg_(1-x)Cd_xTe的禁带宽度Eg值,再根据Eg与x的关系来确定x值。在Hg_(1-x)Cd_xTe的本征吸收光谱上,Eg能量值出现在陡峭的指数吸收边和平坦的本征吸收带交界区域。利用本征吸收光谱确定Eg,需要对Hg_(1-x)Cd_xTe薄样品进行测量,样品厚度一般为10μm左右。我们用PE983红外分光光度计在室温下测量了七个已知组份的 相似文献
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