斜顶机构的干涉现象分析及解决措施研究

斜顶机构的干涉现象是影响注塑模具设计和产品注塑成型的重要因素之一,通过对斜顶机构的运动轨迹进行分析和研究,明确了斜顶机构、产品和模具零部件之间的位置关系,总结了斜顶机构干涉现象产生的原因及解决措施,提升了模具设计的效率。     

等倾干涉条纹的数字化处理方法

文章全面介绍了用条纹中心法自动分析处理等倾干涉条纹的详细过程 ,它通过对图像的二值化、细化、修补、标记等步骤来完成 ,涉及了条纹中心线的提取、条纹缺陷的消除、条纹直径的获取等关键内容。文章最后给出了试验的结果并讨论了等倾干涉条纹图的数字化自动分析处理软件的编制     

干涉条纹图估测基线的方法研究

根据SAR干涉测量原理，提出了利用干涉相干条纹估测基线的方法，并以欧洲空间局资源卫星1号和2号携带的SAR系统在中国新疆伽师试验区获取的串接式（Tan-dem）干涉测量数据为数据源，对提出的方法进行了验证，结果表明，该方法能有效地估测基线，并弥补不能有效获取卫星轨道参数时，对基线进行估测的缺陷，该方法尤其适用于差分干涉测量的研究。     

多模激光自混合干涉实验与理论分析

根据单模激光自混合干涉的基本理论，基于多模竞争，建立多模激光自混合干涉模型，分析多模激光的自混合干涉波形。理论分析与实验观察表明，多模自混合干涉信号是激光管腔长的谐波函数，利用光强波 包络信号可进行大量程测量；激光模数增加有利于测量分辨率的提高；光强波动信号对应激光管等效腔长的整数倍时，可获得最大干涉信号调制深度。     

正交双频光栅CCD系统剪切干涉测量二维温度场

以半导体激光器为光源，利用正交双频光栅（ＯＤＦＧ）ＣＣＤ系统剪切干涉对带平板边界的半圆柱体热源的二维温度场进行实时诊断，分析剪切干涉图时，用柱函数系作为拟合基底，给出二维自然对流温度场的定量分布。     

一种用莫尔技术测量分光板夹角的简易方法

介绍了一种将剪切干涉和莫尔技术结合起来测量分光板夹角的新方法，该方法简单可靠，准确度较高。     

薄Si膜对基底表面粗糙度的影响

利用ＺＹＧＯ光学干涉测量仪，散射积分测量法观测了光学元件表面均方根粗糙度．详细分析了薄Ｓｉ膜对基底均方根粗糙度的影响，由此认为薄膜并不总是复制基底表面的粗糙度，结果出现了薄膜降低表面粗糙度的现象．提出了一定厚度范围的薄Ｓｉ膜的表面粗糙度存在着一个稳定值的新设想．     

β—BBO晶体的电光性能

用干涉法测量了β－ＢＢＯ晶体的电光系数：γ２２＝２．６，γ３３＝０．２３，γ３１＝０．２５，γ５１＝－３．５×１０－１２ｍ／Ｖ。结果表明如果在Ｙ方向加电场，Ｚ方向通光，β—ＢＢＯ晶体可能制作成有应用价值的光开关。