基于改进相干增强扩散与纹理能量测度和高斯混合模型的导光板表面缺陷检测方法

针对液晶屏(LCD)导光板表面缺陷检测方法存在漏检率和误检率较高,对产品表面复杂渐变的纹理结构适应性差的问题,提出一种基于改进相干增强扩散(ICED)与纹理能量测度和高斯混合模型(TEM-GMM)的LCD导光板表面缺陷检测方法。首先,构建ICED模型,基于结构张量引入平均曲率流扩散(MCF)滤波,使得相干增强扩散(CED)模型对缺陷的细线状纹理有良好的边缘保持效果,并利用相干性得到缺陷纹理增强和背景纹理抑制的滤波后图像;然后,根据Laws纹理能量测度(TEM)提取图像纹理特征,将图像的背景纹理特征作为离线阶段高斯混合模型(GMM)的训练数据,使用期望最大化(EM)算法估计GMM参数;最后,计算待检测图像各像素的后验概率,并将其作为在线检测阶段缺陷像素的判断依据。实验结果表明,该检测方法在导光颗粒随机、规则两种分布的缺陷图像测试数据组上的漏检率和误检率分别为3.27%、4.32%和3.59%、4.87%。所提检测方法适用范围广,可有效检测出LCD导光板表面划痕、异物、脏污和压伤等类型的缺陷。     

结构保持生成对抗网络的SD-OCT图像去噪方法

为了去除频域光学相干断层扫描(SD-OCT)中的散斑噪声,提出了一种结构保持生成对抗网络模型,可以无监督地从SD-OCT图像合成高质量的增强深部成像光学相干断层扫描(EDI-OCT)图像.该模型基于循环生成对抗网络结构学习无配对SD-OCT和EDI-OCT图像之间的域映射关系.为了克服循环生成对抗网络生成图像的结构性差异问题,模型利用连续帧之间的相似性引入全局结构损失,保证了图像的全局结构一致性;同时通过模态无关邻域描述符引入局部结构损失,保持了图像的解剖结构细节.在50组CirrusSD-OCT数据集上进行去噪的实验结果表明,该模型的PSNR值为29.03 dB, SSIM值为0.82, EPI值为0.50,均优于现有模型.     

改型Wollaston棱镜干涉光谱仪的调制度研究

改型Wollaston棱镜(MWP)无需中继,可构建微型傅里叶变换光谱仪。回顾了MWP的基本原理,从调制度定义出发,计算得到准单色光源的复相干度,找到调制度的影响因素——扩展视场、剪切结构、焦面探测等。建立一般的干涉定域分析模型后,由像点逆光路追迹给出MWP的厚度计算公式,代入调制度约束参数得到不同参量的误差容限。通过FRED记录不同视场扩展情况的灰度与辐照度,结果显示,调制度为0.9时,视场与理论估算值1.24°基本相符;不同剪切量的灰度与辐照度变化特性表明,结构角会使定域垂直系统光轴的入射角发生变化,与晶轴倾角共同影响双折射率差;2.5和8μm像元探测采样表现出调制度差异,描述了定域深度或离焦的影响。以准单色光源、复相干度表示调制度,可将不同影响因素统一至约束参数中,相关变量误差容限可作为MWP-FTS的设计依据。     

相干光通信系统中QPSK调制解调实验研究

为了使相干接收机输出的两路信号相位正交, 正确地解调信号, 采用施密特正交化算法对两路信号进行了理论分析和实验验证, 经正交失衡算法补偿后, 星座图的性能得到改善; 通过松尾环实现载频的跟踪、捕获以达到载波恢复, 实现了基带信号正确解调。结果表明, 经施密特正交化算法补偿后, 旋转的星座图得到了修正, 星座点间的欧几里德距离不相等问题得到修正, 基带信号畸变得到了改善; 当频偏在-300kHz~300kHz范围内, 松尾环可以实现载频的跟踪、捕获, 基带信号实现正确解调。该方案实现复杂度低, 切实可行, 适用于相干光通信系统的研究。     

高速数模转换芯片动态特性高精度量产测试技术研究

由于生产环境与设备精度的限制,高速数模转换器芯片(DAC)动态特性测试所需的相干采样条件无法精确满足,测试数据的直流偏置误差无法避免,数模转换器位数越高,同等测试时间内误差越大。鉴于此,提出了一种测试数模转换器动态特性的新方法,该方法可以在不增加测试时间与测试成本的情况下,将非相干采样数据转换为等效相干采样数据,并去除数据中的直流偏置误差,测试结果的总体误差能降低到1%以下,远优于当前传统的测试方法。此方法还可用于多载波信号的动态特性测试,并可集成于自动化测试平台,适用于大规模量产。