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半导体光声层析中的电场效应方健文张淑仪(南京大学声学研究所近代声学国家重点实验室南京·210093)1引言光声效应对样品的光学、热学性质差异非常敏感,利用光声效应对多层次固体样品进行无损的深度剖面检测一直是人们重视的课题。多年来已发展了多种获取固体深... 相似文献
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