矩形激光脉冲辐照下半导体温度场理论研究

为了研究矩形激光脉冲辐照下半导体材料3维光生载流子浓度和温度场分布,采用本征函数法求得了等离子体波和热波随时间和空间变化的解析解。数值模拟了矩形激光脉冲辐照下半导体内光生载流子浓度和温度的时间变化规律以及温度沿径向的扩散规律。结果表明,光生载流子表面复合速率、寿命和扩散系数等参量对等离子体波和热波分布的时域特性有重要的影响,特别是在等离子体波和热波阶跃响应的上升和下降沿阶段;此外,多参量拟合灵敏度以及相关性分析表明,对阶跃响应曲线进行拟合可实现对半导体参量的单参量及双参量表征。该理论结果对于利用阶跃光激励的光热技术测量半导体材料参量具有一定的指导作用。     

纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜成像研究进展

扫描力显微镜(SFM)作为一种新型的超分辨率近场扫描探针显微仪器正日益受到各学科领域的高度重视.在铁电材料领域,SFM是开展纳米尺度铁电畴结构成像、纳米尺度畴结构控制及纳米尺度微区的铁电性、介电性、压电性等特性研究的潜在的强有力的研究工具.本文就纳米尺度铁电畴的扫描力显微镜的成像原理的研究进展作一综述.     

半导体光声层析中的电场效应

半导体光声层析中的电场效应方健文张淑仪（南京大学声学研究所近代声学国家重点实验室南京·２１００９３）１引言光声效应对样品的光学、热学性质差异非常敏感,利用光声效应对多层次固体样品进行无损的深度剖面检测一直是人们重视的课题。多年来已发展了多种获取固体深...     

PbZrO3含量对PZN-PZ-PT固溶体弥散性相变的影响

报道了相界附近PZN-PZ-PT三元系固溶体弥散性相变,并研究了PbZrO3含量对PZN-PZ-PT固溶体弥散性相变的影响,发现随着PbZrO3含量的增加,PZN-PZ-PT固溶体弥散程度有所增加.     

调制激光束加热下各向异性材料的光热特性研究

利用傅里叶变换求解三维热传导方程得到调制激光束照射下各向异性材料的交变温度场分布,研究了各向异性材料表面和不同深度的温度场幅度与相位,并讨论了材料的光热属性对温度场分布的影响,此外对如何测量各向异性材料的热扩散张量得到了一些有用结论。     

扫描电声显微镜成像技术研究

扫描电声显微镜(scannmg electron acoustic microscoPe)问世以来，作为一种新的显微成像手段，在众多的材料研究领域得到了广泛的应用，并日益显露其独特的成像本领。为此，我们对原建立的SEAM系统，通过增强电子束流强度和改善调制电路，使得系统的信噪比和空间分辨率大为提高。     

恒压源驱动下的扬声器低频跳跃

通过能量法求解扬声器非线性振动系统的非线性微分方程的一阶近似解,得出幅频关系方程和幅频关系曲线,并着重分析讨论磁场的非线性对扬声器低频跳跃的影响,得出一些结论。     

PbZrO3含量对PZN-PZ-PT因溶体弥散性相变的影响

报道了相界附近ＰＺＮ－ＰＺ－ＰＴ三元系固溶体弥散性相变,并研究了ＰｂＺｒＯ３含量对ＰＺＮ－ＰＺ－ＰＴ固溶体弥散性相变的影响,发现随着ＰｂＺｒＯ３含量的增加,ＰＺＮ－ＰＺ－ＰＴ固溶体弥散程度有所增加。     

PbZrO_3含量对PZN-PZ-PT因溶体弥散性相变的影响

报道了相界附近PZN-PZ－PT三元系固溶体弥散性相变,并研究了PbZrO3含量对PZN－PZ－PT固溶体弥散性相变的影响,发现随着PbZrO3含量的增加,PZN－PZ－PT固溶体弥散程度有所增加．     

激光光热反射技术对薄膜热物性的表征

在考虑探测光束光斑尺寸对调制光热反射(MPR)信号影响的基础上,建立了三维的薄膜-衬底体系的激光光热反射理论模型。对利用激光光热反射技术测量薄膜热物性的可行性进行了研究,并对影响调制光热反射信号的材料参数进行了分析。此外,通过数值模拟研究了多参数拟合问题,即利用调制光热反射频响信号同时确定薄膜热扩散率、衬底热扩散率和界面热阻这三个物理参数。结果表明,与已有的径向扫描方法相比,频率扫描方法中的这三个参数之间并不存在高度的相关性,因此采用频响信号进行多参数拟合,可提高多参数拟合的收敛性和精确性。