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在高寒条件下,A6N01S-T5铝合金焊接接头的性能好坏对于高速列车车体的安全运行至关重要,研究焊接接头的低温性能可以为设计高寒条件下使用的高速列车车体提供理论依据。针对A6N01S-T5铝合金对接接头,进行了不同低温环境下接头的抗拉强度、冷弯性能、疲劳强度试验研究,同时测定接头的硬度分布,观察该接头的微观组织。试验结果表明:接头各区的组织状况能够很好的分析硬度分布规律。随着温度的降低,接头强度有所提高,但由于焊缝中存在缺陷,使得温度对接头疲劳强度的影响不是很明显,气孔是引起疲劳裂纹的主要原因之一。 相似文献
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以圆圈形运丝为研究对象,利用数值模拟与试验相结合的方法研究了在MIG焊接过程中的温度场分布规律,讨论了温度峰值影响接头显微组织及断裂位置的规律.结果表明,对于圆圈形摆动工艺来说,由于熔池区内左侧的材料经历了周期性的二次加热,导致焊缝左侧及热影响区材料经历的温度峰值均高于右侧;摆动工艺的熔池区温度峰值高于不摆动工艺.与直线运丝相比较,摆动焊焊道内的等轴晶较大,而相邻焊道界面处的柱状晶较小.不同工艺下拉伸试样的断裂位置与焊缝区经历的热循环密切相关. 相似文献
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对42 mm厚A6N01S-T5铝合金型材进行双面搅拌摩擦焊接,焊后沿焊缝横截面将接头分为上、中、下三层分别进行疲劳试验,探究其疲劳性能;通过金相组织观察、显微硬度测试、断口分析等方法分析接头疲劳断裂的原因。结果表明,接头疲劳断裂多发生在热影响区,上、中、下三层的疲劳极限分别为103.9 MPa、101.4 MPa和102.2 MPa;焊核区微观组织为细小等轴晶粒,热影响区组织形貌与母材接近,略有粗化现象;接头显微硬度分布呈W型,母材硬度约为108 MPa,焊核区约为75 HV,距离焊缝中心约10 mm的HAZ软化区硬度值最低,约为55~60 HV;疲劳源多为氧化物夹杂造成的应力集中诱发形成。 相似文献
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文中基于能量耗散理论,针对A7N01母材及焊接试件分析载荷频率对材料疲劳寿命的影响. 理论上进行推导得到试件疲劳寿命与循环加载初始阶段单位加载周期内的疲劳试件温度上升速率有关,通过设计10 Hz及128 Hz下的疲劳试验并测得不同频率下的温度演化曲线,可知频率对A7N01母材及焊接试件单位时间内的温升速率影响较大,但对单位循环加载周期内试件的温度上升速率影响很小,对该材料疲劳寿命的影响也不显著;此外还发现温度演化曲线在最初的几个循环内会有小幅度下降,这与试件的初始状态有关,该现象在低频加载时比高频加载时更加明显. 相似文献
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Effect of flame heating pass on microstructure and properties of A6N01 aluminum alloy welded joint 下载免费PDF全文
Flame heating combined with water cooling was used to straighten A6N01 aluminum alloy welded joint and effect of flame heating pass on its microstructure and mechanical properties was studied.Results showed that the flame induced the precipitation and growth of the Mg2Si phase on the Al substrate for the thermal aging A6N01 aluminum alloy welded joints, thus it led the decrease of micro-hardness and tensile strength of the A6N01 aluminum alloy welded joint with the increase of the heating pass.However, the fatigue property of the flame heated joint was improved because the Mg2Si precipitation hindered the initiation and propagation of the fatigue crack. 相似文献
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对10 mm厚的高速列车用国产A7N01S-T5铝合金挤压型材熔化极气体保护焊(MIG)平滑接头和带余高接头进行了疲劳试验,测定了反映接头疲劳性能的S-N曲线,对典型疲劳断口进行了扫描电镜分析,比较平滑接头和带余高接头的疲劳性能。结果表明:在置信度为90%、存活率为50%、误差限为6%的条件下,平滑接头疲劳极限为105 MPa,带余高接头疲劳极限仅为75 MPa。焊接缺陷是影响平滑接头疲劳极限的主要原因,而焊趾处的应力集中则是影响带余高接头疲劳极限的主要原因。 相似文献