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液晶空盒厚决定了液晶盒中液晶层的厚度,对整个液晶显示器件的光电特性、底色及响应速度等有很大的影响。因此,如何准确地测量空盒盒厚具有实际的应用价值;本文从光干涉原理出发,推导出测量液晶空盒盒厚的简单而准确的方法,此方法适用于各种排列及任意扭曲角的液昌空盒,具有误差小、设备简单、操作简便等特点,充分满足了液晶显示器件生产厂家进行盒厚过程监控和优化年设计的需要。 相似文献
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采用高温固相反应法制备了不同浓度Sm^3+掺杂的CeO2荧光粉,样品粉末在紫外激发下发出明亮的橙红色光。利用X射线衍射(XRD)和光致荧光光谱(PL)对样品进行了表征,结果表明样品在掺杂浓度小于4mol%时,Sm^3+离子完全替代Ce^4+离子进入基质CeO2的晶格而形成Ce1-xSmxO2固溶体。PL谱表明Sm^3+的发射峰强度最初随Sm^3+掺杂浓度提高而迅速增强,在Sm^3+掺杂浓度为1mol%达到极大,随后出现浓度猝灭。 相似文献