首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   2篇
  完全免费   2篇
  一般工业技术   4篇
  2014年   1篇
  2012年   1篇
  2005年   1篇
  1997年   1篇
排序方式: 共有4条查询结果,搜索用时 78 毫秒
1
1.
袁国胜 《塑料包装》1997,7(4):36-40
本文运用回归分析法探讨塑编袋扁丝拉断力与纤度的关系,并对扁丝纤度控制范围进行了实际讨论,对指导生产有参考价值。  相似文献
2.
李炯 《塑料包装》2005,15(5):55-56
编织袋生产过程中,扁丝的相对拉断力是控制编织袋强度的主要环节之一。如何控制扁丝的相对拉断力,主要体现在原料的配比、膜片的冷却成形和扁丝的拉伸三个方面.不同的设备、环境可能控制的方法有所不同。根据塑料编织理论,结合实际生产过程的经验,简要地谈谈如何从上述三个方面控制好扁丝强度。  相似文献
3.
为了提高铜线性能及其键合质量,采用拉力-剪切力测试仪、扫描电镜等研究了不同力学性能铜线及相应的键合参数对其键合质量的影响,分析了不同伸长率和拉断力、铜线表面缺陷、超声功率和键合压力对铜线键合质量的作用机制.结果表明:伸长率过小和拉断力过大会造成焊点颈部产生微裂纹,从而导致焊点的拉力和球剪切力偏低;表面存在缺陷的铜线其颈部经过反复塑性大变形会造成铜线表面晶粒和污染物脱落而出现短路和球颈部断裂;键合过程中键合压力过大能够引起的焊盘变形,同时较大的接触应力引起铝层溢出;过大的超声功率使键合区域变形严重产生明显的裂纹和引起键合附近区域严重的应力集中,致使器件使用过程中产生微裂纹而降低器件的使用寿命.  相似文献
4.
研究了不同性能镀钯铜线对其键合质量的影响,分析了不同钯层厚度、不同延伸率和拉断力、镀钯铜线热影响区长短对铜线键合质量的作用机制.研究结果表明:镀钯铜线钯层厚度过小会造成Electronic-Flame-Off(EFO)过程中的Free Air Ball(FAB)偏球、第一焊点形状不稳定及钯层分布不均匀;延伸率过小和拉断力过大会造成焊点颈部应力集中,并产生微裂纹而造成焊点的拉力和球剪切力偏低;镀钯铜线的高强度和低延伸率降低其再结晶温度,造成长的热影响区和颈部晶粒粗大,降低其力学性能,焊接过程中产生颈部裂纹和塌丝.  相似文献
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号