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1.
含锡物料中各种组分的分析都要考虑锡的干扰问题,对于微量组分的分析,尚需采取予先富集的办法.锡的干扰主要有以下几种情况:由于锡盐极易水解,在近中性时生成的水解产物影响其他元素的测定;另外锡(Ⅱ)具强还原性,在氧化还原方法中产生干扰;锡离子对一些显色剂有反应,如不分离或掩蔽,则不可能得到正确的分析结果.含锡物料中微量杂质的测定,虽在某些情况下可采用加入掩蔽剂的办法消除锡的干扰,但往往由于加入掩蔽剂后使分析灵敏度降  相似文献   
2.
本文叙述了自50年代我国开始建立重工业部标准《锡化学分析方法》以来锡中硫的测定方法的实施情况;认为还原蒸馏示波极谱法测定锡中硫,采用HCl-HI-NaI_2PO_2(或H_3PO_2)为还原剂兼作锡的溶剂,用高效还原装置,使硫呈硫化氢逸出,以NaOH溶液吸收、示波极谱测定。方法具有灵敏度高、准确性好、操作简便等优点,建议在修订标准中以此法纳标(现国家标准局已批准发布GB3260·10~88)。  相似文献   
3.
4.
5.
近年来对于ppm~ppb级砷的测定,无论是用比色法或原子吸收分光光度法都有很多报导,可为分析高纯锡中微量砷所借鉴,关键在于如何消除主体锡的影响。常用于锡及其合金中微量砷的测定方法有砷钼蓝光度法、铜试剂银盐光度法、银催化亚铁邻菲罗林光度法、砷锑钼蓝光度法等,皆需预先使砷呈砷化氢或三氯化砷  相似文献   
6.
前言本試驗根据文献为主,研究了以四氯化碳为溶媒时,高純錫及一般金属錫中銀的双硫腙萃取比色法。高純錫含銀在1.10~(-5)%左右,測定前必須予以富集。根据銀的卤化物不易揮发的情况,沿用氯溴化物排錫分离,再按介紹的方法加入EDTA隐蔽杂质,調整PH=3.5~4,以双硫腙显色萃取后按混色法在500毫微米测消光或目視比色。如取样5克,可測最低限为5.10~(-6)%。試驗証实,錫以檸檬酸絡合后并不妨碍微量銀的測定,故对于含銀>5.10~(-5)%的錫样可进行直接測定。对于合鉛較高的錫样(包括焊錫),应用鉛、銀  相似文献   
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