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基于条件概率模型的缺陷定位方法 总被引：1，自引：0，他引：1
缺陷定位是软件调试的重要阶段,依赖程序频谱信息实现软件缺陷定位,是当前比较行之有效的方法.基于频谱缺陷定位方法应用的前提是,程序频谱和执行结果之间存在的潜在关联.通过经验性分析两者之间的内在关联,借助于统计学的条件概率思想,构建了用以量化分析两者关系强弱的P模型,并基于此提出了基于条件概率的缺陷定位方法.以Siemens套件中的7个程序、Space程序和3个Unix工具程序为基准评测对象,与已有的15种经典缺陷定位方法进行了对比实验.实证研究结果表明,该方法总体上具有更好的缺陷定位效果. 相似文献
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