小波统计法的表面缺陷检测方法

针对铜带表面缺陷的特点,基于小波统计方法设计了对铜带表面缺陷检测的系统.首先把铜带表面图像分为互不重叠的子图像,再把子图像分为多个小波处理单元,对每个小波处理单元进行db4紧支集正交小波一级分解,在此基础上进行HotellingT2统计检测缺陷.最后利用支持向量机进行缺陷分类.实验中将基于小波的统计方法和基于灰度的差影法进行比较,结果证明本文提出的方法识别率高,特别对于用一般算法识别率较低的"起皮"缺陷达到96.7%的识别率.