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利用三维漫反射物体的激光色编码技术,并结合边缘照明全息的特点,制造真彩色全息。采用这方法可使彩色全息再现做到方便、严密、整体。具有很大的开发应用前景。 相似文献
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溶胶-凝胶法制备巨介电常数材料CaCu3Ti4O12 总被引:3,自引:0,他引:3
通过溶胶-凝胶法制备CaCu3Ti4O12干凝胶,再经700~900℃,6~10h预烧和950~1 100℃,16~20h烧结,成功制备了CaCu3Ti4O12粉体和CaCu3Ti4O12巨介电常数陶瓷材料.用X射线衍射、扫描电镜分别确定了样品的结晶性能和形貌.用阻抗分析仪在10~106Hz范围内测试了陶瓷样品的介电性能.结果表明:粉体的结晶性能与煅烧温度有关,陶瓷介电性能与其晶粒大小有关.相对于传统固相反应合成法制备的粉体和陶瓷,粉体的预烧和陶瓷的烧结温度都有明显降低,烧成温度至少降低100℃.在800℃预烧的CaCu3Ti4O12粉体并在1 100℃温度下烧结制备的陶瓷,其介电常数可达194753. 相似文献
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全息光栅衍射效率与空间频率的定性研究 总被引:5,自引:0,他引:5
对用天津Ⅰ型全息干板制作的全息光栅,定性研究了衍射效率与空间频率的关系,给出了实验结果。 相似文献
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简易直接数字频率合成器的设计与仿真 总被引:1,自引:0,他引:1
利用ALTERA公司的Quartus Ⅱ平台,通过硬件设计语言VHDL,基于直接数字频率合成器的原理,并采用Cyclone系列的EP1C3T144C8器件完成了DDS的电路设计、描述编译、仿真、综合等主要流程。通过现场可编程门阵列FPGA以查找表的方式实现一种32位频率和相位均可控的简易直接数字频率合成器的方案。经过电路仿真和硬件测试验证了设计的正确性。 相似文献
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基于代码覆盖的错误定位技术是一种常用的错误定位方法,被用来识别与故障相关的程序元素.然而,有研究工作表明基于代码覆盖的错误定位技术的有效性受到了偶然正确性现象的影响.偶然正确性现象是指程序中包含的错误被执行,但没有产生错误结果的情况,它在实际场景中是非常普遍的.在以往的研究工作中,我们提出了一种估算发生偶然正确性现象的概率的方法.该方法从程序运行时内存中值的定义-使用关系出发,对各语句的执行对程序输出的影响进行估计.基于偶然正确性概率,本文对基于代码覆盖的错误定位技术中可疑度的计算方法进行了修正,以消除偶然正确性现象对错误定位技术的影响.本文在Software-artifact Infrastructure Repository (SIR)中提供的西门子测试套件上进行了实验,这也是偶然正确性相关工作中常被使用的目标程序.实验结果表明,相对于基于代码覆盖信息的错误定位技术,本文提出的方法提高或至少维持了原有的安全性,并较好地提高了错误定位的精确度. 相似文献
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烧结温度对CaCu3Ti4O12巨介电性能的影响研究 总被引:2,自引:0,他引:2
制备CaCu3Ti4O12陶瓷,在50 K~300 K温区范围内测试试样介电性能.研究结果表明,CaCu3Ti4O12结晶完整性、晶界及缺陷对其巨介电常数的大小、出现低介电常数向高介电常数转变时对应温度的高低以及对极化粒子的温度活化响应弥散程度有直接的影响.随晶界和缺陷的下降,极化粒子受缺陷相互作用相应减弱,产生松弛时需要克服的势垒下降,对应的产生松弛的温度随之降低.材料的结晶越完整,极化粒子的温度活化响应弥散现象越小,由低到高介电常数的转变速度越快. 相似文献
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