U型样品池中电场分布仿真及其对Zeta电位测量的影响

为探究电场稳定性对测量纳米颗粒溶液Zeta电位的影响,对主流的U型样品池进行电场仿真实验;根据仿真结果发现的U型样品池底部的电场强度分布存在不均匀的问题,选取U型样品池两侧竖直臂的中点位置作为新的探测点,并采用粒径为800 nm的聚苯乙烯带电颗粒悬浮液设计基于电泳光散射法的对比实验。结果表明:U型样品池两侧竖直臂,其电场强度稳定在0. 65 V/mm;在样品池底部,电场强度存在较大分布,从0. 48到0. 75 V/mm。在20～60 V的不同电泳电压条件下,两侧竖直臂Zeta电位的最高标准差为2. 94,是底部Zeta电位最低标准差的1/2;其多普勒频移与电泳电压的一次线性拟合度R~2超过0. 99,而底部的仅为0. 97。     

应用于自适应动态光散射技术的通用型测量方案

利用不同的测量方案测量6种粒径的纳米颗粒平均粒径和分散度poly等,确定一组应用于自适应动态光散射技术的通用型测量方案。结果表明:对于广泛范围粒径的纳米颗粒,使用该通用性测量方案可以获得准确的粒径信息;通用性测量方案在自适应测量过程中不可或缺,同时可以确保自适应测量方案选择的正确性。     

纳米颗粒定向运动对动态光散射测量结果的影响

为探究溶液定向运动对动态光散射测量结果的影响,采用动态光散射测量系统对不同流速下的纳米颗粒进行测量。结果表明:当定向运动速度矢量与散射矢量垂直时,自相关曲线基本不变;当定向运动速度矢量与散射矢量呈某一夹角时,流速越大,自相关曲线衰减越快;在某一特定运动速度下,夹角越小,相关曲线的衰减越快;用有限入射光束宽度下的动态光散射理论可解释上述实验结果。