断路器控制回路断线技术分析及处理方法

分析变电运行中出现断路器＂控制回路断线＂告警信号的原因,并根据实际运行情况提出处理方法。     

TEM IMAGING TECHNIQUE

This imaging technique is used for approximate interpretation of TEM data including ungrounded loopsource and grounded line source soundings.Loop source data can be collected as central-loop soundings or asout-of-loop soundings with a short or long offset configuration.The imaging method is based on the same princi-ple as that employed by Fullager(1989),with apparent resistivities computed directly from time-derivative data,db/d,and then associated with depths according to image theory.     

Loop headers in λ-calculus or CPS

The introduction of a loop header block facilitates the hoisting of loop-invariant code from a loop. In a -calculus intermediate representation, which has a notion of scope, this transformation is particularly useful. Loop headers with scope also solve a problem with in-line expansion of recursive functions or loops: if done naively, only the first iteration is inlined. A loop header can encapsulate the loop or recursion for better in-line expansion. This optimization improves performance by about 5% in Standard ML of New Jersey.     

底层柔性结构两种新的振动控制方法

根据底层柔性结构的特点,本文提出了两种新的振动控制方法.计算结果表明,它们具有良好的减震效果.     

J-K旋转坐标轴定向的矢量控制策略

考虑到传统矢量控制在空载或轻载时励磁电流损耗较大会导致运行效率降低,研究了一种基于j-k坐标轴的新型矢量控制方法。j-k坐标轴的定向角度超前传统的d-q坐标轴45°。在空载或轻载运行时,控制j轴一个方向的电流大小即可达到控制磁链和转矩的目的。励磁电流不再一直维持在额定值,而是随输出转矩的变化而变化。实验结果表明,可以减小励磁电流损耗,具有控制简单,动态性能良好的优点。     

兰州石化分公司新建30万t/a聚丙烯装置概况及特点

介绍了中国石油兰州石化分公司采用Basell公司Spheripol-Ⅱ技术新建30万t/a聚丙烯装置的工艺特点和产品方案.     

电子战半实物仿真系统

介绍了Windows NT RTX及广播内存网在实时性方面的特点及其软硬件组成,对电子战系统的半实物仿真进行了详细综述,阐明了电子战半实物仿真系统的系统构成,并对系统的各组成部分进行了讨论。     

一种改进的异步电机弱磁控制方法

针对机床用异步电机要求低速时能输出较大转矩且在高速运行时响应速度快的特点,在转子磁场定向的矢量控制方法的基础上,提出一种考虑定子电压的电压闭环弱磁控制策略,实现了励磁电流和输出电压的动态调节,解决了传统方法下电机带负载能力和高速运行响应速度不可兼得的矛盾。试验结果验证了该方法的可行性和有效性。     

一种组合式三相逆变器基准信号的产生方法

基准正弦波信号的质量直接影响到逆变器输出正弦波形的幅值、频率及失真度(THD),因此要求基准正弦波发生电路能够提供稳定度高和THD小的正弦波形.以往的组合式三相逆变器基准电路各相需共用两个高频信号,易受干扰.鉴于此提出了一种基于锁相技术的基准正弦波发生电路,3个单相逆变器之间无需任何互连信号线,每个单相逆变模块完全独立且可互换,因此实现简单可靠,十分适合于组合式三相逆变器.     

圆片表面薄膜应力传感器设计

为使半导体产品达到所要求的光学、电子和机械性能,必须实时地在沉积过程中直接测量薄膜应力.介绍了一种简便的薄膜应力测量装置方案,它可进行各种单晶、多晶和非晶结构材料沉积过程的现场应力测量,灵敏度优于2.5×106 Pa,精度优于5%.该方案具有结构简单、测量速度快、适应性强等特点,可以应用于半导体集成电路生产线的薄膜生长过程控制检测.