部分向量奇偶位切分的LFSR重新播种方法

提出一种基于部分测试向量奇偶位切分的LFSR重新播种测试方法.针对确定测试集中各个测试向量包含确定位的位数有较大差异以及测试向量所含的确定位大多连续成块的特点,通过奇偶切分部分确定位较多的向量,使得编码压缩的LFSR度数得到有效降低,从而提高了测试数据压缩率.其解压缩电路仍然采用单个LFSR进行解码与切分向量的合并.与目前国际同类编码压缩方法相比,具有测试数据压缩率高、解压硬件开销低、测试数据传输协议简单等特点.     

重新播种的测试方法研究

重新播种的测试方法是一种内建自测试方法,它可以用来提高伪随机测试矢量的故障覆盖率。介绍了 三种重新播种的测试方法,它们分别是使用很少种子的内建自测试重新播种方法、多重多项式线性反馈移位寄存器 的重新播种方法和使用部分线性反馈移位寄存器的重新播种方法。这三种方法在测试的硬件开销方面或在编码效率 等方面有所改进。     

基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案

大规模高密度集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题.提出了一种先通过编码优化测试集,再使用线性反馈移位寄存器（linear feedback shift register, LFSR）重播种的内建自测试方案.该方案通过自动测试模式生成工具得到被测电路的确定测试集,再压缩为种子集存储在片上ROM中.压缩测试集的过程中,首先以降低测试功耗为目标,用少量确定位编码测试集中的部分测试立方,来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以提高压缩率同时降低LFSR级数为目标,将测试立方编码为确定位含量更少的分段相容码（CBC）,最后将以CBC编码的测试立方集压缩为LFSR种子集.实验证明所提出的方案在不影响故障覆盖率的前提下大量降低了测试功耗,并且具有更高的测试数据压缩率.     

On-the-Fly Reseeding: A New Reseeding Technique for Test-Per-Clock BIST

In this paper we present a new reseeding technique for test-per-clock test pattern generation suitable for at-speed testing of circuits with random-pattern resistant faults. Our technique eliminates the need of a ROM for storing the seeds since the reseeding is performed on-the-fly by inverting the logic value of some of the bits of the next state of the Test Pattern Generator (TPG). The proposed reseeding technique is generic and can be applied to TPGs based on both Linear Feedback Shift Registers (LFSRs) and accumulators. An efficient algorithm for selecting reseeding points is also presented, which targets complete fault coverage and allows to well exploiting the trade-off between hardware overhead and test length. Using experimental results we show that the proposed method compares favorably to the other already known techniques with respect to test length and the hardware implementation cost.     

基于增强补种的混合水平集CT图像分割

针对医学图像CT图像像素不均匀对图像局部分割算法影响较大的问题,提出一种基于Lagrangian粒子增强补种算法的混合水平集医学CT图像分割算法。首先,针对局部图像的非均匀性,通过在计算水平集公式前先计算Lagrangian标记粒子来重建内嵌交接界面,从而提高水平集算法的质量守恒特性;其次,针对传统粒子方法在处理界面奇异性和复杂几何相关问题上的不确定性,通过增加速度矢量和单位法向量来促进奇异点和拓扑变化点速度场的收敛;最后,通过在合成数据测试集和真实CT图像上的仿真测试表明,所提算法在边缘分割收敛精度及运算速度上均要优于对比算法。     

一种基于折叠计数器重新播种的确定自测试方案

提出了一种基于扫描自测试的确定与混合模式新方案,这种方案依赖于一个新型的模式生成器,它主要配备一个可编程的约翰逊计数器,称之为折叠计数器。这种新技术首先使用一个小的线性反馈移位寄存器（LFSR）,生成伪随机测试模式测试容易测试的故障,并且获得一个硬故障测试立方集T;其次采用经典的输入精简技术,集合T的测试立方宽度可以被压缩;最终为了能够找出合理的小数目折叠计数器种子,来生成这个确定的测试立方集T,给出了其理论背景和实用算法。试验结果表明,这个所建议的方案与先前所公布的基于线性反馈移位寄存器和约翰逊计数器的重新播种方法相比,具有非常出色的结果。因此它提供了一种有效的、弹性的基于扫描的自测试解。     

基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案

提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容来增加被编码测试向量中的无关位,降低了线性反馈移位寄存器（LFSR）编码种子的度数,且不必增加额外的测试向量,最终达到压缩测试数据的目的．该方案的硬件解压结构仅需一个LFSR和简单的控制电路．实验结果表明,与其他压缩方法,如基于部分向量切分的LFSR重新播种方法、混合码方案和FDR码方案等相比,该方案在压缩效率和硬件开销上都有明显优势．     

On Using Twisted-Ring Counters for Test Set Embedding in BIST

We present a novel built-in self-test (BIST) architecture for high-performance circuits. The proposed approach is especially suitable for embedding precomputed test sets for core-based systems since it does not require a structural model of the circuit, either for fault simulation or for test generation. It utilizes a twisted-ring counter (TRC) for test-per-clock BIST and is appropriate for high-performance designs because it does not add any mapping logic to critical functional paths. Test patterns are generated on-chip by carefully reseeding the TRC. We show that a small number of seeds is adequate for generating test sequences that embed complete test sets for the ISCAS benchmark circuits.Instead of being stored on-chip, the seed patterns can also be scanned in using a low-cost, slower tester. The seeds can be viewed as an encoded version of the test set that is stored in tester memory. This requires almost 10X less memory than compacted test sets obtained from ATPG programs. This allows us to effectively combine high-quality BIST with external testing using slow testers. As the cost of high-speed testers increases, methodologies that facilitate testing using slow testers become especially important. The proposed approach is a step in that direction.     

基于Linux的自动超越补偿控制系统设计

以S3C2440A微处理器为核心,设计了一种基于嵌入式的排种器漏播自补种控制系统。该系统以激光传感器监测漏种、霍尔传感器监测排种器转速,通过监测排种器内部漏充种情况提前预知漏播,提出了一种基于超越离合器的漏播自补种控制算法,控制排种器自身的超越旋转实现自动补种,设计了可视化交互界面监控播种情况和故障报警。实验结果表明：漏种监测和转速监测准确率为100%,系统的补种成功率和补种后粒距合格指数在19.96 r/min转速以下能达到100%,在19.96 r/min以上时达到98%,补种及时,准确。     

一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法

随着集成电路技术的迅速发展,芯片的集成度越来越高,怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要。其中内建自测试被认为是解决测试问题有效方法之一。文中提出了一种选择多个单元的重新播种BIST测试方法,实验结果表明该方法可以降低硬件开销。